IWATSU 半导体参数自动化测量软件 CS-810
产品型号:CS-810 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:实现测量自动化并提高效率!半导体参数测量软件 CS-810以往很多项目都是分别通过手动操作一边执行设置一边花费大量的时间执行测量,而采用IWATSU半导体参数测量软件 CS-810的话,即可轻松且自动执行测量,而且测量内容也可作为依据保存。此外,如果事先设置阈值的话,还可实现自动测量。
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IWATSU 半导体参数自动化测量软件 CS-810
产品型号:CS-810 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:实现测量自动化并提高效率!半导体参数测量软件 CS-810以往很多项目都是分别通过手动操作一边执行设置一边花费大量的时间执行测量,而采用IWATSU半导体参数测量软件 CS-810的话,即可轻松且自动执行测量,而且测量内容也可作为依据保存。此外,如果事先设置阈值的话,还可实现自动测量。
IWATSU CS-3300 功率半导体参数分析3000V@1000A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3300 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流1000A(CS-3300大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
IWATSU CS-3200 功率半导体参数分析3000V@400A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3200 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流400A(CS-3200大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地: 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
同惠电子TH1992B、TH1992、TH1991 高精度源表
产品型号:TH1992B、TH1992、TH1991 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:TH1991/TH1992系列精密源/测量电源,可同时输出并测量电压和电流,在仪器中集成了电流源、电压源、电压表、电流表功能,各功能可任意切换。还可输出高达±210V直流电压、±3A直流电流以及±10.5A脉冲电流、最小10fA/100nV的电源和测量分辨率,支持高速采样,可生成任意波形。
同惠电子TH2851-015、TH2851-030、TH2851-050、TH2851-080、TH2851-130 精密阻抗分析仪
产品型号:TH2851-015、TH2851-030、TH2851-050、TH2851-080、TH2851-130 原产地:中国 所属类别:精密阻抗分析仪
产品简介:TH2851系列阻抗分析仪是常州同惠电子采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,为国产阻抗测试仪器的最新高度。
同惠电子TH510系列TH511、TH512、TH513 半导体C-V特性分析仪
产品型号:TH510系列TH511、TH512、TH513 原产地:中国 所属类别:CV参数测试仪
产品简介:TH510系列半导体C-V特性分析仪是同惠电子针对半导体材料及器件生产与研发的分析仪器。TH510系列半导体C-V特性分析仪创新性地采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1英寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,适用于生产线快速分选、自动化集成测试及满足实验室研发及分析。
GWINSTEK固纬GBM-3000系列(GBM-3300,GBM-3080)电池测试仪
产品型号:GBM-3000系列(GBM-3300,GBM-3080) 原产地:中国 所属类别:毫欧表/电池内阻测试仪
产品简介:台式电池测试仪GBM-3000系列,使用AC 1kHz作为测试信号,测量电池电压和内阻为300V(GBM-3300)和80V(GBM-3080)。 该系列具有3.5”TFT LCD,4线测量方法,高分辨率(6位电压/ 5位电阻)测量显示能力,以及独立的GO / NOGO电压和电阻判定,各种通信接口等,满足各种类型的电池测量,如单体电池,电池单元到最终产...