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产品信息

Product information

产品信息
WayneKerr  3255B 稳科 高精度电感分析仪

WayneKerr 3255B 稳科 高精度电感分析仪

产品型号:3255B      原产地:英国

所属类别:精密阻抗分析仪

产品简介:

在线圈产品的检测领域中,Wayne Kerr 一直是独一无二的领导品牌, 全球各地也一致公认WK产品的精准度、功能性及其优良的品质保证.。3255B电感分析仪亦承袭了以上所有优势.,运用最新科技,结合所需的量测功能, 3255B不但是一台有高精准度, 高效率且多功能的产品, 它优惠的价格所提供的成本效益, 更是市场上其他产品所望尘莫及的。

产品特点
产品参数
应用说明
功能配置
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产品特色


•频率范围 20Hz - 200kHz(3255BL)
•频率范围 20Hz - 500kHz(3255B)
•频率范围 20Hz - 1MHz(3255BQ)
•0.1% 基本量测精确度
•DC Bias(直流偏压) 最高可到125A(Option)
•筛选分类功能(Bin)
•多频率自动测试模式
•涵盖各式测量参数 - 包含 Z(阻抗), L(电感), C(电容), Rac(交流电阻), Phase(相位), Q(品质因素), D(损耗因素), Rdc(直流电阻) 及 圈数比.
•人性化直觉式操作介面,简单易懂.
•测试结果列印
•可透过IEEE488连线控制



产品规格


在线圈产品的检测领域中,Wayne Kerr 一直是独一无二的领导品牌, 全球各地也一致公认WK产品的精准度、功能性及其优良的品质保证. 3255B电感分析仪亦承袭了以上所有优势。
运用最新科技,结合所需的量测功能, 3255B不但是一台有高精准度, 高效率且多功能的产品, 它优惠的价格所提供的成本效益, 更是市场上其他产品所望尘莫及的。


3255B and 3255BQ are highly versatile and accurate inductance analyzers able to characterise devices in a clear and simple manner. The three  models in the range are the 3255BL (200kHz), 3255B (500 kHz) and the 3255BQ (1 MHz).


At the design stage of component development it is very important to analyse how components performs under different operating conditions. This includes operation over a range of frequencies, AC drive levels or DC bias currents.


The AC drive level can be set between 1 mV to 10 V. DC bias current can be set from 1 mA to 1 A internally (optional) with external DC bias units available increasing the maximum current to 125 A (3255B and 3255BQ).




Specification summary


Measurement functionsZ, Ø, L, C, Rac, Rdc, Q, D, turns ratio
Frequency ranges20 Hz to 200 kHz (3255BL)
20 Hz to 500 kHz (3255B)
20 Hz to 1 MHz (3255BQ)
Basic accuracy0.1%
ModesImpedance
Multi frequency
Bin handler (option)
DC bias current 3255B and 3255BQ1 mA to 1 A (internal option)
Up to 125 A when used with five external 3265B/25A DC Bias Units
DC bias current 3255BL1 mA to 1 A (internal option)
Up to 50 A when used with five external 3265B/10A DC Bias Units
InterfaceGPIB (option)
Measurement speedUp to 20 measurements/sec


Printed output of test results