快速联系>

咨询热线

0731-85260926 18665876229

更多信息请关注企业微信
12bit高清数字示波器 光隔离波形采集 基础数字示波器 信号发生器 数字万用表DMM 频谱分析仪 频率计 数据采集与回放 红外热像仪
B-H分析仪(软磁芯) 半导体曲线图示仪 SMU源表 CV参数测试仪 飞安表/静电计/高阻计 频率特性分析仪 矢量网络分析仪 VNA 精密阻抗分析仪 高频LCR表 毫欧表/电池内阻测试仪 感性器件阻抗直流偏置 磁通计
标准手动探针台 便携小型探针台 半自动功率探针台 射频微波探针台 高低温探针台 真空探针台系统 强磁-霍尔探针台 定制型精密探针卡 探针台配件
可编程交流电源 交流双向电源(电网模拟器) 可编程直流电源 直流双向馈网电源 交流电子负载 直流电子负载 精密双极性功率放大器 双极性仿真电源
功率分析仪 功率计 电力参数分析仪 变压器电参数分析仪
数字锁相环放大器 超低噪声前置放大器 精密电流放大器 精密差分放大器 精密滤波器 截光器 精密低噪声直流电源 振荡器
安规测试仪(ACI/DCI/IR/GB) 高压表 漏电电流表
电磁骚扰EMI 电磁抗扰度EMS
标准或校准源表 标准电流与电压表
电压探头 光隔离电压探头 交直流电流探头 差分探头 精密分流器 磁通门电流互感器 通讯接口与线缆 软件 专用夹具
高低温循环冲击箱 震动试验台 盐雾实验 恒温恒湿试验箱 电池类特规试验装置

产品信息

Product information

产品信息
NF ZA57630 阻抗分析仪 日本回路设计

NF ZA57630 阻抗分析仪 日本回路设计

产品型号:ZA57630      原产地:日本

所属类别:精密阻抗分析仪

产品简介:

测量真正的特性,从电子零件、半导体器件到材料的特性评价,应对多样的阻抗测量需求。

 基本精度 ±0.08%
 频率范围 10 µHz~36 MHz
 阻抗范围 10 µΩ~100 GΩ  (模式: IMPD-EXT)

产品特点
产品参数
应用说明
功能配置
资源下载

特点:

结合用途配备丰富的功能
以最适合DUT特性的设定,支持高重现性且准确的测量
准确的评价基于实际使用的操作条件

电子零件、电子材料可能因测量频率及施加的信号级别而表现出不同的特性。电容器和电感器存在因寄生成分引发的频率依赖性,二极管等半导体器件由于 DC 偏置叠加而产生特性变化。
要评价真实的特性,重要的是频率、AC 振幅和 DC 偏置的扫频,在实际的操作条件下进行测量。


特点
  •  扫频

  •  延迟功能

  •  标记操作

  •  测量条件等的设定

  •  自动高密度扫频

  •  顺序测量

  •  量程

  •  误差校正

  •  图表显示

 

丰富的功能

  •  共振点跟踪测量

  •  相对介电常数测量

  •  外部基准时钟

  •  等效电路估算

  •  相对导磁率测量

  •  存储器操作

  •  压电常数计算

  •  比较器 / 处理器接口

 

 

扫频   频率、AC 振幅、DC 偏置、零频宽


AC 振幅扫描

AC amplitude sweep


扫频

Frequency sweep


DC 偏置扫频

DC bias sweep


零频宽

不变更频率、AC 振幅和 DC 偏置的参数,按恒定的条件进行测量,观察不同时间的特性变化(横轴:时间)



“True Value”
测量真正的特性。

ZA57630

▲ ZA57630

ce

 

从电子零件、半导体器件到材料的特性评价,应对多样的阻抗测量需求    

 

 









基本精度


频率范围


阻抗范围


测量 AC 信号级别
 


DC 偏置
 


测量时间


测量参数
 
±0.08%
10 µHz~36 MHz
10 µΩ~100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
0.01 mVrms~3 Vrms
0.1 µArms~60 mArms
−5 V ~ +5 V/−40 V ~ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ~ +100 mA
0.5 ms/point
Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ,
Q, V, I, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, FREQUENCY


快速测量  

实现了业界最快的0.5ms/point。
缩短生产线的节拍时间,提高测量作业的效率。
此外,通过增加设定的测量时间,使测量结果平均化,减轻噪声的影响。可视需要选择最合适的测量时间。

img01



 

4种测量模式   应对广泛的DUT


IMPD-3T
   标准测量模式

本模式可以在广泛的频率范围内进行高精度测量。可使用测试线及测试夹具,应对各种形状的试样。

img02
 


IMPD-2T
   高频测量模式

本模式可以在 10MHz 以上的高频下进行稳定的测量。使用 N 型连接器进行 2 端子测量,即便配线长,也可以进行稳定的测量。

img03
 


IMPD-EXT
  外部扩展测量模式

本模式为外部连接放大器或分流电阻等物进行测量。
可以通过施加高压信号或检测微小电压 / 电流进行单独使用本仪器无法应对的测量。

img04
 


G-PH
   增益/相位测量模式

本模式可以测量滤波器、放大器等的传输特性。向被测电路施加扫描信号,高精度地测量其频率响应(增益、相位)。

img05



正面面板测量端子

 image.png