高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
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高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪
产品型号:2600-PCT-4B 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件,需要全面的器件级检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪(代替原晶体管图示仪)支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电压曲线测试(CV曲线测试)和高功率脉冲IV曲线测量。
IWATSU DM-8000H光隔离多通道12bit高压浮地隔离示波器日本岩通
产品型号:DM-8000 原产地:日本 所属类别:光隔离示波器系统
产品简介:浮动·宽频·多通道·同时测试 对应超高电压的浮地测试 *输入块、控制块和显示块用光纤电缆隔离。(DM-900A/AL, DM-910A/AL)*频率带宽:直流至500MHz.*同时多通道测量具有不同参考电位的多个通道。(2 至 24 个通道)(DM-900A/AL)*长寿命电池驱动。(系统可由三节电池驱动约12小时)(DM-900A/AL, DM-910A/AL...
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
Cascade TESLA 200 美博 大功率8英寸半自动探针台
产品型号:TESLA 200 原产地:美国 所属类别:半自动探针台
产品简介:TESLA 系列专门为新型功率器件的开发与生产品质检查而开发,特别适合于高电压,大电流 的功率型器件和晶圆的测试方向 。
TELEDYNE-LECROY HDO6000 高分辨率12Bit数字示波器
产品型号:HDO6000 原产地:美国 所属类别:12bit高清数字示波器
产品简介:HDO6000 高解析数码示波器 HDO6000高解析示波器搭载Teledyne LeCroy HD4096高清技术与业界公认之分析、软硬件除错工具、具备更深存储器、12.1英寸多点触控显示器,它并不贵重,却可以全部实现。
Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台
产品型号:α-300 原产地:日本 所属类别:标准手动探针台
产品简介:12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试
Apollowave α-100 阿波罗微波4英寸手动探针台
产品型号:α-100 原产地:日本 所属类别:标准手动探针台
产品简介:Offer the new standard model of alfa series with high operational advanced performance