岩通计测B-H分析仪SY-8218 10Mhz软磁磁芯材料高频损耗及磁饱和

产品型号：SY-8219,SY-8218      原产地：日本      所属类别：B-H分析仪（软磁芯）

产品简介：全球软磁交流损耗评价行业标准，IEC-62044-3 标准化仪器产品， 日本岩崎通信机原产，从1988年上市以来一直引领软磁材料行业风向是众多研究机构，大学，企业最予以信赖的专业仪器。

IWATSU CS-10000系列岩崎15KV大功率半导体IGBT器件I-V曲线图示测试仪

产品型号：CS-10400/10800/12800/15800      原产地：日本      所属类别：半导体曲线图示仪

产品简介：高电压・大电流，在CS-3100基础上加载UHV与HC

NF ZA57630 阻抗分析仪 日本回路设计

产品型号：ZA57630      原产地：日本      所属类别：精密阻抗分析仪

产品简介：测量真正的特性，从电子零件、半导体器件到材料的特性评价，应对多样的阻抗测量需求。● 基本精度 ±0.08%● 频率范围 10 µHz～36 MHz● 阻抗范围 10 µΩ～100 GΩ  (模式: IMPD-EXT)

HIOKI 3506-10 LCR 测试仪 日本日置

产品型号：3506-10      原产地：日本      所属类别：高频LCR表

产品简介：对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量● 根据BIN的测定区分容量

HIOKI 3504-60 LCR 测试仪 日本日置

产品型号：3504-60      原产地：日本      所属类别：高频LCR表

产品简介：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等● 高速测量2ms● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

HIOKI 3504-50 LCR 测试仪 日本日置

产品型号：3504-50      原产地：日本      所属类别：高频LCR表

产品简介：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等● 高速测量2ms● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

MICROTEST 6377 益和精密 阻抗分析仪 20Hz~1MHz

产品型号：6377      原产地：台湾      所属类别：精密阻抗分析仪

产品简介：6377 阻抗分析仪器具备高精确度、速度，且经济型多功能，能够执行一应俱全的组件测试。可搭配DC Bias 机型。人性化操作接口设计同步于国际趋势，简单操作快速导入产线。多项参数同时测是只需一次设定，一次同时显示。高精密值的量测数据与卓越的功效，为组件和材料不可或缺的测试仪器。支持RS232、Handler、GPIB PC...

MICROTEST 6378阻抗分析仪 20Hz~5MHz

产品型号：6378      原产地：台湾      所属类别：精密阻抗分析仪

产品简介：6378 阻抗分析仪器具备高精确度、速度，且经济型多功能，能够执行一应俱全的组件测试。可搭配DC Bias 机型。人性化操作接口设计同步于国际趋势，简单操作快速导入产线。多项参数同时测是只需一次设定，一次同时显示。高精密值的量测数据与卓越的功效，为组件和材料不可或缺的测试仪器。支持RS232、Handler、GPIB PC...