TLP-3010C pulse generator 先进传输线脉冲 (TLP) 技术的 ESD 测量
产品型号:TLP-3010C 原产地:德国 所属类别:TLP 传输线脉冲
产品简介:High Power Pulse Instruments GmbH (HPPI) 是一家基于先进传输线脉冲 (TLP) 技术的 ESD 测量设备供应商。
快速筛选适合您使用的产品
TLP-3010C pulse generator 先进传输线脉冲 (TLP) 技术的 ESD 测量
产品型号:TLP-3010C 原产地:德国 所属类别:TLP 传输线脉冲
产品简介:High Power Pulse Instruments GmbH (HPPI) 是一家基于先进传输线脉冲 (TLP) 技术的 ESD 测量设备供应商。
高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
PD-2000X 双脉冲(DPT)器件动态参数分析系统
产品型号:PD-2000X 原产地:中国 所属类别:动态参数测试系统
产品简介:PD2400-IF一款高适用性的双脉冲动态参数测试设备,与DS-8KSWA-J23 SiC 模块化动态测试单元构成模块化系统级动态测试方案,系统采用柔性模块接口,国际标准信号传输协议,保证数据互联互通,测试仪器与传感器间对高速信号的兼容性,一致性可溯源,参数补偿有依据,是行业内专业高效的动态参数测试解决方案之一。
PD-200X 多用途双脉冲(DPT)器件动态参数分析系统
产品型号:PD-200X 原产地:中国 所属类别:动态参数测试系统
产品简介:PD-200X 是由捷创仪器深度开发的多用途功率器件动态参数测试分析系统,系统采用最小回路结构保证系统Ls<20nH ,模块化设备,极佳的仪器与探头兼容性,高冗余安全性确保高压大电流测试器件与人员安全。目前最具性价比的双脉冲测试系统,特别适合大学,研究,初创型半导体企业。
Keithley 2400标准系列SMU 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2400 标准系列 SMU 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:Keithley 标准系列 2400 源测量单元 (SMU) 仪器提供四象限精密电压和电流源/负载,外加测量。每个 SMU 仪器均同时提供高度稳定的直流电源和一台真正的仪器级 6½ 位万用表。电源特性包括低噪声、高精度和回读。万用表的功能包括高重复性和低噪声。
Keithley 2601B-PULSE 10 µs 脉冲发生器/SMU 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2601B-PULSE 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:System SourceMeter®10 µs 脉冲发生器/源测量单元 (SMU) 仪器将高电流/高速脉冲发生器的功能与传统 SMU 的测量及全部功能集于一台仪器中。其优异的 10 A @ 10 V 快达10 μs 脉冲宽度和全 1 MS/s 数字化功能极大地提升了从台式检定到高度自动化脉冲式 I-V 生产测试等应用的效率。
IWATSU CS-605/603A 碳化硅器件 C-V高压5KV测试仪 日本岩崎
产品型号:CS-605/603 原产地:日本 所属类别:CV参数测试仪
产品简介:5kV(CS-605)あるいは3kV(CS-603)までの容量測定を自動化(スィープ機能付き),可以测Cies, Ciss(入力容量)、Coes, Coss(出力容量)、Cres , Crss(逆伝達容量)、 CT(端子間容量)、Cgs,Cge/Cgd,Ccg/Cds,Cce(計算値)、Rg(ゲート抵抗)