GWINSTEK固纬 LCR-8200系列(LCR-8230,LCR-8220,LCR-8210,LCR-8205,LCR-8201)数字电桥
产品型号:LCR-8200系列(LCR-8230,LCR-8220,LCR-8210,LCR-8205,LCR-8201) 原产地:中国 所属类别:高频LCR表
产品简介:固纬电子新推出LCR-8200系列,提高了测试精度,增加了电压,电流监控,直流电阻测试,ALC功能,输入阻抗切换等功能。
快速筛选适合您使用的产品
GWINSTEK固纬 LCR-8200系列(LCR-8230,LCR-8220,LCR-8210,LCR-8205,LCR-8201)数字电桥
产品型号:LCR-8200系列(LCR-8230,LCR-8220,LCR-8210,LCR-8205,LCR-8201) 原产地:中国 所属类别:高频LCR表
产品简介:固纬电子新推出LCR-8200系列,提高了测试精度,增加了电压,电流监控,直流电阻测试,ALC功能,输入阻抗切换等功能。
IWATSU岩崎BH磁损测试仪配套四象限高频功率放大器SY-5001,SY-5002
产品型号:IE-1125,SY-5001,SY-5002 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪(软磁芯)
产品简介:HSA4101-IW 10MHz、±1A peak、±71V peak;SY-50015MHz、±6A peak、±150V peak;SY-50025MHz、±6A peak、±75V peak
岩通计测B-H分析仪SY-8218 10Mhz软磁磁芯材料高频损耗及磁饱和
产品型号:SY-8219,SY-8218 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪(软磁芯)
产品简介:全球软磁交流损耗评价行业标准,IEC-62044-3 标准化仪器产品, 日本岩崎通信机原产,从1988年上市以来一直引领软磁材料行业风向是众多研究机构,大学,企业最予以信赖的专业仪器。
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
KEYSIGHT B1505A 10KV-1500A 是德功率半导体参数分析仪 Qg
产品型号:B1505A 原产地:美国 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:Agilent B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪是一款适合功率器件测试的综合解决方案,具有 sub-pA 至 10 kV/1500 A 的宽测量范围,并可提供精密的 µÙ 导通测量功能。此外,其 10 µs 快速脉冲功能能够执行完整的功率器件表征,并对新功率器件(例如 IGBT )和宽带隙材料(例如,碳化硅(SiC)和氮化镓(G...
NF ZM2371/2372/2376回路设计5.5MHZ 高频LCR表
产品型号:ZM2371/2372/2376 原产地:日本 所属类别:高频LCR表
产品简介:ZM2371基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~5.5MHz , 测量速度 最快2ms, 接触检查、低容量检查。ZM2372基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~100kHz , 测量速度 最快2ms,4端子的接触检查功能,处理机接口。ZM2376基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~5.5MHz , 测量速度 最快2ms,接触检查、低容量检查。
IWATSU CS-605/603A 碳化硅器件 C-V高压5KV测试仪 日本岩崎
产品型号:CS-605/603 原产地:日本 所属类别:CV参数测试仪
产品简介:5kV(CS-605)あるいは3kV(CS-603)までの容量測定を自動化(スィープ機能付き),可以测Cies, Ciss(入力容量)、Coes, Coss(出力容量)、Cres , Crss(逆伝達容量)、 CT(端子間容量)、Cgs,Cge/Cgd,Ccg/Cds,Cce(計算値)、Rg(ゲート抵抗)
IWATSU SY-8232/SY8258 岩崎软磁性材料交流BH饱和BS及损耗分析仪-停产
产品型号:SY-8232/8258 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪(软磁芯)
产品简介:说明 :此机型停产,规格机型为SY-8218 (高频10MHZ)及SY-8219 (1MHZ)The SY-8232 high-frequency B-H analyzer is the flagship of IWATSU’s line of B-H analyzers. It has a high-frequency B-H curve tracing capability over an ultrawide-range measurement frequency from 10 Hz (optionally 1 Hz) to 10 MHz.