MICROTEST 7630 益和精密耐压测试仪 - 安规测试仪（ACI/DCI/IR/GB） - 力高捷创仪器-日本岩崎总代理BH分析仪-CS半导体参数分析-双脉冲动态-PEM罗氏线圈-N4L环路分析仪-PMK FF1500光隔离探头

MICROTEST 7630 益和精密耐压测试仪

产品型号：7630 原产地：台湾

所属类别：安规测试仪（ACI/DCI/IR/GB）

产品简介：

7630 为2通道测试

提供 AC 耐压 5000V、DC 耐压 6000V、绝缘阻抗 1.2GΩ

电弧侦测功能检测线圈是否有细微的放电现象

可设定爬升时间 (0.1s-10s)

True RMS 量测线路

USB Host 可储存设定档案及韧体的更新

支援 Remote 远端控制信号

产品特点

产品参数

应用说明

功能配置

资源下载

7630为2通道耐压测试仪，AC 高压5000V，DC 高压6000V，绝缘阻抗1.2GΩ。内部记忆体可存30组测试档案，每组档案支援16组测试步骤。USB Host 可储存档案及更新韧体。可连接USB Device/RS-232传送指令至电脑。另外待测物测试不良时，可加装不良的通道警示灯，透过Remote Port输出信号判断。耐高压测试仪为验证产品的品质和电气安全特性的一种测试。一般适用于进料检验，制程控制，生产线，或研发等检测部门。

量测数据

项目	量测范围	解析度	精准度
AC 输出电压	10V ~ 5000V	1	±(3% of setting+5V)
AC 输出频率	50 / 60Hz
AC 上限漏电流	0.001 ~ 31mA	0.001	±3%
AC 下限漏电流	0 .000~ 30.99mA	0.001	±3%
AC 测试时间 (上升时间)	0.1 ~ 999s (0.1 ~ 10s)	0.1
AC 电弧侦测	侦测档位从0 ~ 20 (1为最灵敏)
DC 输出电压	10V ~ 6000V	1	±(3% of setting+5V)
DC 上限漏电流	0.001 ~ 11mA	0.001	±3%
DC 下限漏电流	0.000 ~ 10.99mA	0.001	±3%
DC 测试时间 (上升时间)	0.1 ~ 999s (0.1 ~ 10s)	0.1
DC 电弧侦测	0 ~ 10 (1为最灵敏)
IR 输出电压	10 ~ 1000Vdc	1	±(3% of setting+5V)
IR 上限范围	1 ~ 12000MΩ	1	100 ~ 500V, 1 ~ 1000MΩ(±5%) 500 ~ 1000V, 2 ~ 12000MΩ(±5%)
IR 下限范围	0 ~ 11999MΩ	1	100 ~ 500V, 1 ~ 1000MΩ(±5%) 500 ~ 1000V, 2 ~ 12000MΩ(±5%)
IR 测试时间 (上升时间)	0.1 ~ 999s (0.01 ~ 10s)	0.1

规格

Remote 输入信号	Test, Abort
Remote 输出信号	Pass, Fail, HV output, Testing
安全开关	进行测试时需要将此仪器后端 INTER LOCK 进行短路，机台才能输出测试电压
内建储存	30组测试档案
USB Host 储存	储存设定档案及韧体的更新，存档组数取决于USB容量大小
多步测试	每个档案最多支援16个步骤
介面	RS-232, Remote, USB Host/Device, EXT. I/O
电源需求	电压 90Vac-264Vac
电源需求	频率 50/60Hz ±5%
液晶萤幕	4.3吋TFT, 彩色显示(480*272)
操作环境	温度:5℃-40℃, 湿度:0-80%RH
*外观尺寸(WHD)*	365x145x430 mm
重量	14Kg