GWINSTEK固纬GSM-20H10数字源表

产品型号：GSM-20H10      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：GSM-20H10提供±210V / ±1.05A / 22W的四象限操作。在第一象限和第三象限，它们作为电源运行，为负载供电。在第二和第四象限，它们作为负载使用，在内部耗散功率。而电压值、电流值和电阻值可以在电源或负载操作期间进行量测，其准确度高达0.012%并且分辨率可达1µV/10pA/10µΩ。

Keithley 2510 /2510-AT/2520 SourceMeter光仪器 光学SMU 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2510 /2510-AT/2520      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：通过 Keithley 仪器，可以轻松构建 LIV（光功率-电流-电压）系统，从而经济高效地测试激光二极管模块。2520 脉冲激光二极管测试系统：同步测试系统，为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT：确保通过控制其热电冷却器，为激光二极管模块提供严格的温度控制。

Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2606B      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本，2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。

Keithley SMU2650系列2651A/26527A高功率 SourceMeter® 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2651A/26527A      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件（例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件）的检定和测试而设计。 它们提供前所未有的功率、精度、速度、灵活性、易用性，可提高研发、生产测试和可靠性环境...

Keithley 2400图形化系列2450/2460/2461/2470 SMU仪器四象限精密电压和电流源/负载 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2450/2460/2461/2470      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：Keithley 2400 图形化系列 SMU 仪器提供四象限精密电压和电流源/负载，外加直观触摸屏用户界面上的测量。这些仪器可同时提供 10 fA - 10 A 脉冲电流和/或 100nV - 200V 电压（实现 1000W 脉冲和 100W 直流总功率）并对其进行测量，从而使用户可以 Touch，Test，Invent®（触摸、测试、创新）。

Keithley 2600B系列2601B/2602B/2604B/2611B/2612B/2614B /2634B/2635B/2636B SMU仪器 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2601B/2602B/2604B/2611B/2612B/2614B /2634B/2635B/2636B      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是业界标准电流-电压源和测量解决方案，适用于高度自动化生产测试应用。 双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。 另外，TSP® 技术可运行完整测试程序，适用于自动化系统应用，TSP-链路®技术允许菊花式链接最多 64...

多通道SMU源表系统软件

产品型号：EC-201      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：EC-201是针对多通道SMU源表应用场景，面向二端、三端、四端器件与材料领域，可针对不同研究需求定制的参数测试分析测试软件。

源表型多通道半导体IV参数分析测试盒HSF-200

产品型号：HSF-200      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：HSF-100/200测试盒是专为源表与半导体参数分析仪打造的高性能测试夹具与环境解决方案。 在实验室各种仪器电磁干扰日益复杂的环境中，科研人员常面临测试数据波动大、微小信号难以捕捉的困境、一台源表无法满足测试需求，需多台同步使用，源表 需要配合如光谱仪，热冲击仪器等不同领域仪器组成复合测试系统等问题。 HSF...