产品信息

PHS-100S 单通道SiC/GaN器件Tj仿真与高温短路失效分析系统

产品型号：PHS-100S      原产地：中国      所属类别：器件结温模拟器 Tj

产品简介：PHS-100S小型功率半导体温控测试系统是一款微型化、高精度无风型温控系统，专为功率半导体（IGBT,SiC , GaN）的静态参数、动态特性及可靠性测试而优化设计；采用低压供电与专利结构，和有效高温保护，确保器件，人员的安全；

PHS-100D 双通道SiC/GaN器件Tj仿真与高温短路失效分析系统

产品型号：PHS-100D      原产地：中国      所属类别：器件结温模拟器 Tj

产品简介：PHS-100D小型功率半导体温控测试系统是一款微型化、高精度无风型温控系统，专为功率半导体（IGBT,SiC , GaN）的静态参数、动态特性及可靠性测试而优化设计；采用低压供电与专利结构，和有效高温保护，确保器件，人员的安全；

PHS-500系列专家级高低温宽温域结温模拟系统

产品型号：PHS-500      原产地：中国      所属类别：器件结温模拟器 Tj

产品简介：PHS-500是适用于从晶圆到封装模块的专家级高低温结温模拟系统，无风型设计在保证温度稳定性的前提下实现快速高低温的温度变化.

PHS-200系列双通道SiC-GaN专业级器件 / 模块通用无风型结温模拟系统

产品型号：PHS-200      原产地：中国      所属类别：器件结温模拟器 Tj

产品简介：PHS-200是专业级的无风型结温模拟系统，同时兼容封装功率器件与封装功率模块的结温控制，可配合岩崎的CS系列、是德的功率器件分析仪，组成功率器件分析系统，一键完成功率器件的Datasheet标定测试。

IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8500      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。

IWATSU CS-5100，CS5200，CS5300，CS5400功率半导体I-V静态参数图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-5100/5200/5300/5400      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：用于测试IGBT,VDMOS等功率半导体的静态参数仪器，是目前市面上唯一一款能够全面替代TEKTRONIC 370系列图示仪的产品。

IWATSU CS-3300 功率半导体参数分析3000V@1000A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量，最大峰值电压3,000V（高电压模式），最大峰值电流1000A（CS-3300大电流模式），所有机型均搭载LEAKAGE模式(测量分辨率1pA)，可执行图像数据保存和设置数据保存至USB端口，搭载远程控制专用的LAN接口

KEYSIGHT B1505A 10KV-1500A 是德功率半导体参数分析仪 Qg

产品型号：B1505A      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：Agilent B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪是一款适合功率器件测试的综合解决方案，具有 sub-pA 至 10 kV/1500 A 的宽测量范围，并可提供精密的 µÙ 导通测量功能。此外，其 10 µs 快速脉冲功能能够执行完整的功率器件表征，并对新功率器件（例如 IGBT ）和宽带隙材料（例如，碳化硅（SiC）和氮化镓（G...