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JECTRONIC-IWATSU PHS-500 功率半导体高温电参数自动测试系统
PHS-500 功率半导体高温测试系统一体化解决方案：半导体参数曲线图示仪主机+专用高低温夹具+多功能软件性能优势，“软硬”结合：CS-3000 5
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随着电网直流高压输变电，电动汽车的快速进步，电能转换领域非常重要的核心器件，SiC MOSFET等大功率半导体器件的正确评估与参数标定成为芯片开发，器件或模块研发，品质检查，第三方认证，失效分析等几乎所有流程的关键问题，几乎都需要对器件的静态耐压，漏电，导通压降，Rds(ON), I-V曲线，饱和导通电流等进行评价。
功率器件静态参数是评价器件性能最关键，也是最基础的流程，输出能够满足宽禁带器件测试的高电压与大电流，是对仪器的刚需，SiCMOSFET通常击穿电压达到数KV，漏电电流为nA甚至pA级；但同时导通电流达到数KA ，导通压降为3V以内，这对于仪器的精度，可靠性，稳定性，安全性都提出了严苛的要求。
力高捷创仪器可以提供集成了最新一代功率半导体参数分析仪的CS-8000的温度变化下的SiC器件的静态参数评价器件级方案与晶圆级方案，该方案可以为前沿半导体研究提供全电压范围，最大测量电压达5KV ；全电流范围，最大测量电流达2000A 级，同时漏电分辨率达到fA级 ，提供新型TOLL、TOLG等封装器件夹具，丰富安全接口和保护装置，确保器件，人员，设备的可靠案例运行。
一、静态参数测量产品
IWATSU CS-8000系列产品
最大测量电压：5000V
最大测量电流: 2000A
最大微电流分辨率：250fA
二、测量参数： IV测量：
CV测量： 晶体管输入电容Ciss 输出电容Coss 反向传输电容Crss 三、具体方案： |
可选配TO-247-4，TOLL、TOLG、TO-263等封装Vamtek高精度测试夹具
可集成不同尺寸不同系列的探针台以满足不同测试需求
可选择可靠性测试方案（集成冷热冲击热流仪），或者EMMI方案（集成晶圆级无风温度变化台）
JECTRONIC-IWATSU PHS-500 功率半导体高温电参数自动测试系统
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