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产品型号:B1506A 原产地:美国
所属类别:半导体参数分析仪
高达 3 kV/1500 A 的宽广工作范围
从 -50 °C 到 +250 °C 的全自动快速热测试
自动创建功率器件(半导体和元器件)的技术资料
自动记录功能可防止数据丢失
可对封装和晶圆上器件进行全自动快速 IV 测量(Ron、BV、泄漏、Vth、Vsat 等)
窄脉冲宽度(最窄10微秒)可防止器件自发热,更准确地测试器件实际性能。
示波器视图(时域视图)可监测实际电压/电流脉冲波形,以便进行准确测量。
配置可灵活扩展,通过添加CV和Qg模块,将电流范围从20 A扩展至500 A或1500 A。
IV 套件的全部特性
测量封装器件在 3 kV 时的晶体管输入、输出和反向传输电容(Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres)以及栅极电阻(Rg)
测量封装器件的栅极电荷(Qg)曲线
计算功率损耗(传导、驱动和开关损耗)
B1506A 功能丰富,有助于在实际电路工作条件下发现不合格器件,这类工作条件包括宽广的电压和电流范围(3 kV 和 1500 A)、宽广的温度测量范围(-50 °C 至 +250 °C)、快速脉冲生成能力和 nA 级以下的电流测量分辨率。 其独特的软件界面采用了用户非常熟悉的器件技术资料格式,因此用户无需任何正式培训即可轻松表征器件。测试夹具内的集成开关电路支持全自动测试,能够在高电压测试与大电流测试之间,以及IV和CV测量之间自动切换。
此外,独特的插入式器件测试夹具插座适配器可避免电缆连接及其他人为误差。B1506A还支持全自动热特性测试。该操作可通过集成式Thermostream控制器或Thermal Plate完成。由于被测器件与B1506A的测量资源极为接近,因此不存在因气候室电缆延伸段导致的显著寄生效应。
鉴于此,您可在低温和高温条件下精确评估高达1500 A的无振荡超大电流。B1506A助您充分释放最终产品的价值并加速产品开发,从而彻底改变电力电子电路设计。
IV 套件(H20、H50、H70)的价格与传统曲线追踪仪相当。使用 B1506A,您可获得更多先进特性。您也可升级任何 B1506A IV 套件(H20、H50、H70)以增加电流量程,或添加 CV/Qg 测量功能(选件 H21、H51、H71)。
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