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产品信息

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产品信息
Vamtek HSF-K13系列功率半导体B1506A夹具&Cx系列测试座

Vamtek HSF-K13系列功率半导体B1506A夹具&Cx系列测试座

产品型号:HSF-K13      原产地:中国

所属类别:半导体参数分析仪

产品简介:

专业级拓展测试方案,专为是德科技B1506A/B1505A功率器件分析仪量身打造,提供高精度、高兼容性、高可靠性的一站式功率半导体测试解决方案。


产品特点
产品参数
应用说明
功能配置


本方案由HSF-K13测试夹具与HSF-Cx 系列专业测试座两大核心模块组成,实现硬件适配与测试精度的双重突破。

无缝兼容原厂生态

直插对接B1506A原厂测试盒,屏蔽线完美适配B1505A,原生兼容Curve Tracer接口,无需额外调试即可即插即用。

四线全开尔文精密架构

Cx系列测试座采用标准四线全开尔文设计,有效消除接触电阻干扰,确保mΩ级超低电阻与高压漏电测试的极致精准度。

适配全主流器件封装

深度支持TO-247-3/4、TOLL、QDPAK、HU3PAK、TOLG、TOLT、TO-263等功率器件封装,全面覆盖SiC/GaN第三代半导体与传统硅基器件测试需求。

多场景高可靠测试支持

完美支撑室温到高温175℃下IV特性、CV电容、高压漏电及RdsON导通电阻等关键参数测试,满足功率器件研发与验证的全流程需求。


项目

技术参数

适配主机

是德科技 B1506A(直插式)、B1505A(屏蔽接线式)功率器件分析仪

B1506A 连接方式

直插式对接原厂测试盒,无额外转接线缆,信号损耗最低

B1505A 连接方式

定制屏蔽连接线对接原厂测试盒,抗干扰设计,抑制外部噪声

标准接口

原生 Curve Tracer 曲线追踪仪接口,完全匹配原厂测试接口

核心配套

Cx 系列全开尔文功率器件测试座(分常规型、高温型、低释气型、低电感型)

项目

环境参数

常规工作温度

0℃ ~ +40℃

全系列工作温域

-55℃ ~ +175℃(标准款);-55℃ ~ +220℃(高温款 Cx 测试座)

存储温度

-20℃ ~ +60℃

工作湿度

20% RH ~ 80% RH,无凝露

工作气压

标准大气压

特殊环境适配

低释气款 Cx 测试座,适用于半导体洁净室

项目

机械与结构参数

安装方式

是德科技 B1506A(直插式)、B1505A(屏蔽接线式)功率器件分析仪

更换方式

拔插式快拆结构,单款测试座拆装时间<5s,多封装快速切换

适配封装清单

通孔封装:TO-247-3、TO-247-4L、TO-3P; SMD 表面贴装封装:TOLL、TOLG、TOLT、QDPAK、HU3PAK、R2PAK、TO-252 (D-PAK)、TO-263 (D2-PAK)、TO-263-7;

结构防护

整体绝缘壳体 + 高压物理隔离设计,防触电


支持项目

测试项

Threshold voltage

温变V(th),Vge(th)

Transfer Characteristics

温变Id-Vgs, Ic-Vge

Gate leakage current

温变Igss, Iges

Output leakage current

温变Idss, Ices

Output Characteristics

温变Id-Vds, Ic-Vce

Gate Charge

温变Qg, Qg(th), Qgs, Qgd

On resistance

温变Rds-on. Vce(sat)

CV 结电容测试

Ciss、Coss、Crss 等结电容参数


可根据CX测试座型号选配对应的PHS功率半导体温变测试系统/结温模拟系统及对应加热工装

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