泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪
产品型号:2600-PCT-4B 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件,需要全面的器件级检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪(代替原晶体管图示仪)支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电压曲线测试(CV曲线测试)和高功率脉冲IV曲线测量。
快速筛选适合您使用的产品
泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪
产品型号:2600-PCT-4B 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件,需要全面的器件级检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪(代替原晶体管图示仪)支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电压曲线测试(CV曲线测试)和高功率脉冲IV曲线测量。
VITREK 98x Teraohmmeter 太欧表/绝缘电阻 (IR) 测试仪
产品型号:98X 原产地:美国 USA 所属类别:安规测试仪(ACI/DCI/IR/GB)
产品简介:98x 系列太欧表满足当今对更高电压 IR(绝缘电阻)测试的苛刻要求。在永无止境的更高效率竞赛中,电动汽车和太阳能电池板阵列现在以高达 2.5 KV 的电压轨运行。这里不适合 1 KV 测试仪,是时候升级到 Vitrek 98x 了,对于需要对多根导体进行绝缘电阻测试的应用,Vitrek 98×1 红外测试仪能够直接控制多达 4...
VITREK 95X Series Hipot Testers AC-DC-IR-GB 耐压仪
产品型号: 原产地: 所属类别:安规测试仪(ACI/DCI/IR/GB)
产品简介:功率和多功能性,适用于最苛刻的电气安全测试应用Vitrek 采用 DSP 技术从头开始构建 95X 系列,为您带来最安全、最快速、功能最强大、功能丰富的耐压测试仪。95X系列结合了高输出功率、宽范围的交流和直流电压输出以及极低的漏电流测量。然后,我们添加了一个动态范围高达 100K 欧姆的 4 线毫欧表和一个重叠的太...
IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地: 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
A1020-200-20 宽频10khz-10Mhz,200W超声功率放大器 Dr.Hubert
产品型号:A1020 原产地:德国 所属类别:精密双极性功率放大器
产品简介:The A1020-200-20 is a broadband RF amplifier in the frequency range of 100 kHz...20 MHz with a linear output power of at least 200 W. Measurements on components such as inductors, transformers, capacitors, etc.
IWATSU VOAC7602/7502 6位半带数据记录仪数字万用表
产品型号:VOAC7602 原产地:日本 所属类别:数字万用表DMM
产品简介:IWATSU VOAC7602 产品是一款具备数据记录功能的高分辨率6位半数字万用表,支持以高分辨率数字实时显示,数据统计显示,数据自动判断,数据记录功能,数据趋势显示功能。
替代是德B1505 集成电路半导体参数分析仪曲线测试仪 IWATSU CS-8000系列
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:■最大5kV,最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 (分辨率250fA) ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试
PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯
产品型号:S系列 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表,集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作,因此广泛应用于各种电气特性测试:半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。