泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪
产品型号:2600-PCT-4B 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件,需要全面的器件级检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪(代替原晶体管图示仪)支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电压曲线测试(CV曲线测试)和高功率脉冲IV曲线测量。
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泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪
产品型号:2600-PCT-4B 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件,需要全面的器件级检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪(代替原晶体管图示仪)支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电压曲线测试(CV曲线测试)和高功率脉冲IV曲线测量。
IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地: 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
替代是德B1505 集成电路半导体参数分析仪曲线测试仪 IWATSU CS-8000系列
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:■最大5kV,最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 (分辨率250fA) ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试
PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯
产品型号:S系列 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表,集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作,因此广泛应用于各种电气特性测试:半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。
NGI N2600系列数字源表替代KEITHLEY 4200 直流与脉冲源 恩智
产品型号:N2600 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:N2600系列数字源表是NGI专门针对要求紧密结合源和测量的测试场景而研发的国产化源表。该系列产品集5台仪器(电压源、电流源、IVR测量)功能于一体,能输出超高精度的电压源和电流源并提供测量功能,测量分辨率达6位半;N2600系列产品内置多种功能软件,具备电源输出精度高、响应速度快、信号纯净、纹波噪声低等优点,可...
IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪
产品型号:CS-10400/10800/12800/15800 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:高电压・大电流,在CS-3100基础上加载UHV与HC
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
IWATSU CS-10800/CS-10400 10KV-30KV日本岩崎超大功率IV曲线图示仪
产品型号:CS-10800/CS-10400 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:全球领先的功率器件静态参数分析,10KV电压,8000A电流的输出能力,特别适合于宽禁带器件,如SiC,GaN及金钢石等材料的静态参数指标评价与性能分析。