高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
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高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
PD-200X 多用途双脉冲(DPT)器件动态参数分析系统
产品型号:PD-200X 原产地:中国 所属类别:动态参数测试系统
产品简介:PD-200X 是由捷创仪器深度开发的多用途功率器件动态参数测试分析系统,系统采用最小回路结构保证系统Ls<20nH ,模块化设备,极佳的仪器与探头兼容性,高冗余安全性确保高压大电流测试器件与人员安全。目前最具性价比的双脉冲测试系统,特别适合大学,研究,初创型半导体企业。
泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪
产品型号:2600-PCT-4B 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件,需要全面的器件级检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪(代替原晶体管图示仪)支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电压曲线测试(CV曲线测试)和高功率脉冲IV曲线测量。
IWATSU CS-3200 功率半导体参数分析3000V@400A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3200 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流400A(CS-3200大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地: 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
替代是德B1505 集成电路半导体参数分析仪曲线测试仪 IWATSU CS-8000系列
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:■最大5kV,最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 (分辨率250fA) ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试
Keithley 2510 /2510-AT/2520 SourceMeter光仪器 光学SMU 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2510 /2510-AT/2520 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:通过 Keithley 仪器,可以轻松构建 LIV(光功率-电流-电压)系统,从而经济高效地测试激光二极管模块。2520 脉冲激光二极管测试系统:同步测试系统,为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT:确保通过控制其热电冷却器,为激光二极管模块提供严格的温度控制。
Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2606B 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本,2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。