替代是德B1505 集成电路半导体参数分析仪曲线测试仪 IWATSU CS-8000系列
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:■最大5kV,最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 (分辨率250fA) ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试
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替代是德B1505 集成电路半导体参数分析仪曲线测试仪 IWATSU CS-8000系列
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:■最大5kV,最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 (分辨率250fA) ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试
APM ELS系列ELS200VDC39600W-7-30 直流电子负载系统 全天科技
产品型号:ELS200VDC39600W-7-30 原产地:中国 所属类别:直流电子负载
产品简介:ELS系列直流电子负载系统当前标准化大功率直流电子负载机柜由7U电子负载组成,单个机柜载流能力可达3000A,67.5kW。支持多个机柜主从并联扩容系统功率可达294kW。机柜底部的断路器开关控制交流输入的通断,上电后其中一台电子负载将工作在主机模式下,同步监控系统内所有从机的状态。标配紧急停止开关可切断机柜内所有产...
APM EL200VDC600W到8100W高密度可编程直流电子负载 全天科技
产品型号:EL200VDC3000W 原产地:中国 所属类别:直流电子负载
产品简介:EL系列高密度可编程直流电子负载该系列可编程直流电子负载具有200V、600V以及1200V电压范围,超高功率密度。支持4种CV/CC/CR/CP基本工作模式,以及3种CV+CC/CV+CR/CR+CC复合工作模式。具有过电流、过功率、过温告警保护功能,过压、反接告警功能,可提供完备保护。支持外部0~10V模拟电压信号控制/监视0到满量程的电压或...
Keithley 2510 /2510-AT/2520 SourceMeter光仪器 光学SMU 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2510 /2510-AT/2520 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:通过 Keithley 仪器,可以轻松构建 LIV(光功率-电流-电压)系统,从而经济高效地测试激光二极管模块。2520 脉冲激光二极管测试系统:同步测试系统,为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT:确保通过控制其热电冷却器,为激光二极管模块提供严格的温度控制。
Keithley SMU2650系列2651A/26527A高功率 SourceMeter® 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2651A/26527A 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件(例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件)的检定和测试而设计。 它们提供前所未有的功率、精度、速度、灵活性、易用性,可提高研发、生产测试和可靠性环境...
PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯
产品型号:S系列 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表,集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作,因此广泛应用于各种电气特性测试:半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。
IWATSU SE-6000特高压100KV光隔离差分测量探头单元
产品型号:SE-6000 原产地:日本 所属类别:光隔离电压探头
产品简介:基于光隔离技术,高速信号同步与长续航电池组匹配组成可以适应高压,特高压,极高压测量中波形数据的捕获难题,匹配普通示波器可以简单实现超高速高压信号的准确测量。
IWATSU SY-8218/SY-8219 B-H Analyzer - DC-bias +POWER LOSS test system
产品型号:SY-960 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪(软磁芯)
产品简介:最大30A的直流偏置能力,匹配SY-8218型BH分析仪系统,可以实现业界最大交直流叠加的应用场景,可以最大程度仿真功率电感应用场景!