NF ZA57630 阻抗分析仪 日本回路设计
产品型号:ZA57630 原产地:日本 所属类别:精密阻抗分析仪
产品简介:测量真正的特性,从电子零件、半导体器件到材料的特性评价,应对多样的阻抗测量需求。● 基本精度 ±0.08%● 频率范围 10 µHz~36 MHz● 阻抗范围 10 µΩ~100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
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NF ZA57630 阻抗分析仪 日本回路设计
产品型号:ZA57630 原产地:日本 所属类别:精密阻抗分析仪
产品简介:测量真正的特性,从电子零件、半导体器件到材料的特性评价,应对多样的阻抗测量需求。● 基本精度 ±0.08%● 频率范围 10 µHz~36 MHz● 阻抗范围 10 µΩ~100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
MICROTEST 6377 益和精密 阻抗分析仪 20Hz~1MHz
产品型号:6377 原产地:台湾 所属类别:精密阻抗分析仪
产品简介:6377 阻抗分析仪器具备高精确度、速度,且经济型多功能,能够执行一应俱全的组件测试。可搭配DC Bias 机型。人性化操作接口设计同步于国际趋势,简单操作快速导入产线。多项参数同时测是只需一次设定,一次同时显示。高精密值的量测数据与卓越的功效,为组件和材料不可或缺的测试仪器。支持RS232、Handler、GPIB PC...
WayneKerr WK4100 LCR表 系列
产品型号:WK4100 原产地:英国 所属类别:高频LCR表
产品简介:0.1% 基本精确度,266PCS/分产量~540PCS/分双频测试,四项参数显示4110频率范围20Hz~100kHz4120频率范围20Hz~200kHz4150频率范围20Hz~500kHz41100频率范围20Hz~1MHzGPIB USB,LAN,RS232界面与操作软件测试参数:Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc
TEKTRONIX KEITHLEY 590 C-V分析仪/准静态CV
产品型号:590 原产地:美国 所属类别:CV参数测试仪
产品简介:he Keithley Model 590 CV Analyzer measures capacitance versus voltage (C-V) and capacitance versus time (C-t) characteristics of semiconductor devices. Unlike other capacitance measurement instruments, the Model 590 has been tailored to the requirements of semiconductor device testing.
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
KEYSIGHT B1505A 10KV-1500A 是德功率半导体参数分析仪 Qg
产品型号:B1505A 原产地:美国 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:Agilent B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪是一款适合功率器件测试的综合解决方案,具有 sub-pA 至 10 kV/1500 A 的宽测量范围,并可提供精密的 µÙ 导通测量功能。此外,其 10 µs 快速脉冲功能能够执行完整的功率器件表征,并对新功率器件(例如 IGBT )和宽带隙材料(例如,碳化硅(SiC)和氮化镓(G...
NF ZM2371/2372/2376回路设计5.5MHZ 高频LCR表
产品型号:ZM2371/2372/2376 原产地:日本 所属类别:高频LCR表
产品简介:ZM2371基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~5.5MHz , 测量速度 最快2ms, 接触检查、低容量检查。ZM2372基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~100kHz , 测量速度 最快2ms,4端子的接触检查功能,处理机接口。ZM2376基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~5.5MHz , 测量速度 最快2ms,接触检查、低容量检查。
IWATSU SY-320A/321A 岩崎SY-8218 B-H分析仪磁芯高低温测试系统
产品型号:SY-320A/321A 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪(软磁芯)
产品简介:IWATSU与全球知名的温控箱ESPEC 公司合作研发出针对软磁产品高低温多样品自动化测试的自动恒温B-H 测试系统