IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪
产品型号:CS-10400/10800/12800/15800 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:高电压・大电流,在CS-3100基础上加载UHV与HC
快速筛选适合您使用的产品
IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪
产品型号:CS-10400/10800/12800/15800 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:高电压・大电流,在CS-3100基础上加载UHV与HC
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
WayneKerr 3260B 稳科 精密的磁性元件分析仪
产品型号:3260B 原产地:英国 所属类别:精密阻抗分析仪
产品简介:3260B 是现今最尖端,最精密的磁性元件分析仪. 它的设计符合现今所有线圈产品所需要的测试功能, 不论是单一电感或是变压器, 3260B都能满足您的测试需求3260B 不但提供高频宽测试频率, 通讯压器所需之量测, 图形扫描零件特性, 高速生产线上测试, 及可配合大偏压电流测试.最重要是它拥有精密准确及稳定量测性能.
NF ZM2371/2372/2376回路设计5.5MHZ 高频LCR表
产品型号:ZM2371/2372/2376 原产地:日本 所属类别:高频LCR表
产品简介:ZM2371基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~5.5MHz , 测量速度 最快2ms, 接触检查、低容量检查。ZM2372基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~100kHz , 测量速度 最快2ms,4端子的接触检查功能,处理机接口。ZM2376基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~5.5MHz , 测量速度 最快2ms,接触检查、低容量检查。
IWATSU CS-10800/CS-10400 10KV-30KV日本岩崎超大功率IV曲线图示仪
产品型号:CS-10800/CS-10400 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:全球领先的功率器件静态参数分析,10KV电压,8000A电流的输出能力,特别适合于宽禁带器件,如SiC,GaN及金钢石等材料的静态参数指标评价与性能分析。
IWATSU SY-8218\SY-8219 岩崎软磁交流B-H磁芯损耗POWER LOSS分析仪
产品型号:SY-8219/SY-8218 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪(软磁芯)
产品简介:磁特性的磁通密度B(以T为单位),磁场强度H(为A/m为单位)采用普遍的X-Y轴,这里被描述的曲线称为B-H曲线。作为测量B-H曲线的方法,有直流的评估方法和交流的评估方法。 我司现有连贯交流的测量方法,是交流情况下测试磁材料的B-H曲线。此项功能受到许多用户的支持。因此,现在的交流B-H曲线示踪器被确定为“B-H分析仪”。
IWATSU CS-5100,CS5200,CS5300,CS5400功率半导体I-V静态参数图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-5100/5200/5300/5400 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:用于测试IGBT,VDMOS等功率半导体的静态参数仪器,是目前市面上唯一一款能够全面替代TEKTRONIC 370系列图示仪的产品。
IWATSU 半导体参数分析仪 CS-3100/3200/3300 IGBT曲线图示 日本岩通计测
产品型号:CS-3000/3200/3300 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:IWATSU岩崎(岩通计测) CS-3000大功率晶体管特性图示仪,分为CS-3100/3200/3300,最大峰值电压:3000V,最大峰值电流:1000 A,支持漏电流(LEAKAGE)测试模式(光标分辨率:1 pA),测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数,。