IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地: 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
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IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地: 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
GWINSTEK固纬 LCR-8200系列(LCR-8230,LCR-8220,LCR-8210,LCR-8205,LCR-8201)数字电桥
产品型号:LCR-8200系列(LCR-8230,LCR-8220,LCR-8210,LCR-8205,LCR-8201) 原产地:中国 所属类别:高频LCR表
产品简介:固纬电子新推出LCR-8200系列,提高了测试精度,增加了电压,电流监控,直流电阻测试,ALC功能,输入阻抗切换等功能。
PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯
产品型号:S系列 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表,集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作,因此广泛应用于各种电气特性测试:半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。
岩通计测B-H分析仪SY-8218 10Mhz软磁磁芯材料高频损耗及磁饱和
产品型号:SY-8219,SY-8218 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪(软磁芯)
产品简介:全球软磁交流损耗评价行业标准,IEC-62044-3 标准化仪器产品, 日本岩崎通信机原产,从1988年上市以来一直引领软磁材料行业风向是众多研究机构,大学,企业最予以信赖的专业仪器。
IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪
产品型号:CS-10400/10800/12800/15800 原产地:日本 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:高电压・大电流,在CS-3100基础上加载UHV与HC
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体曲线图示仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
WayneKerr 3260B 稳科 精密的磁性元件分析仪
产品型号:3260B 原产地:英国 所属类别:精密阻抗分析仪
产品简介:3260B 是现今最尖端,最精密的磁性元件分析仪. 它的设计符合现今所有线圈产品所需要的测试功能, 不论是单一电感或是变压器, 3260B都能满足您的测试需求3260B 不但提供高频宽测试频率, 通讯压器所需之量测, 图形扫描零件特性, 高速生产线上测试, 及可配合大偏压电流测试.最重要是它拥有精密准确及稳定量测性能.
NF ZM2371/2372/2376回路设计5.5MHZ 高频LCR表
产品型号:ZM2371/2372/2376 原产地:日本 所属类别:高频LCR表
产品简介:ZM2371基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~5.5MHz , 测量速度 最快2ms, 接触检查、低容量检查。ZM2372基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~100kHz , 测量速度 最快2ms,4端子的接触检查功能,处理机接口。ZM2376基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~5.5MHz , 测量速度 最快2ms,接触检查、低容量检查。