软磁磁芯与电感器件损耗分析

IWATSU SY-8218  高频交流B-H曲线分析仪系统 

IWATSU 岩崎高频损耗测量系统中文说明书

高频精密全自动线损测量
-研究和开发软磁材料的事实上的标准设备。

精确且准确的软磁铁芯损耗测量

日本岩崎公司的B-H分析仪采用CROSS-POWER方法(IEC62044-3)，能够实现精确和高精度的测量，在频谱中嵌入了最小化的相位误差积分和电流检测电阻，并在检测电路中进行补偿，对幅度和相位特性进行完全补偿。1984年的第三代车型现已上市，有助于未来电源管理的前沿发展。

各种类型的软磁材料性能测试类型

可以应用于各种类型，各种形状的软磁材料测试，如铁氧体，坡莫合金，非晶合金，矽钢片，金属磁粉芯，同样适合于各种形状的磁环，EE磁芯，EI磁芯，板，带，膜，及磁粉的测量。

Various types of soft magnetic material property testTypes

全自动测试SY-810 型

铁芯损耗POWER LOSS测量：

开关电源和DC-DC转换器中使用的高频变压器存在漏电流，漏电流随着处理频率的增加而增加。泄漏的原因包括磁滞损耗和涡流损耗。损耗电流产生的热量导致设备温度升高，难以缩小设备尺寸。测量软磁零件的铁芯损耗是将损耗降至最低并进一步减小设备尺寸的最佳解决方案。

B-H 曲线的测量:

磁饱和将是评价磁性材料的重要参数之一。磁饱和可以通过测量B-H曲线来确定。
如果磁性元件在您想要使用的条件下饱和，则很难期望其固有性能。
B-H分析仪是目前唯一能够在从低频到高频的MHz带宽范围内，在各种条件下对软磁材料进行高精度B-H曲线测量的仪器。

磁导率ui测量：

磁饱和将是评价磁性材料的重要参数之一。磁饱和可以通过测量B-H曲线来确定。
如果磁性元件在您想要使用的条件下饱和，则很难期望其固有性能。
B-H分析仪是目前唯一能够在从低频到高频的MHz带宽范围内，在各种条件下对软磁材料进行高精度B-H曲线测量的仪器。

其他配置组成更高效的全自动测试系统

SY-320A温度扫描测试系统 ,非晶带材测试系统和直流偏置测试系统均可通过SY-810 进行远程控制。

Temperature scanner system

非晶带材等测试系统

功率型电感应用需要的高直流叠加测试系统