IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8000      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：采用模块式设计，电压高达2KV可调，电流达2000A 可选，最小电流分辨率优于250fA.

IWATSU 功率半导体静态参数分析仪 CS-3100/3200/3300 IGBT曲线图示 日本岩通计测

产品型号：CS-3000/3200/3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,最大峰值电压：3000V，最大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数,。

Vamtek先进半导体SiC/GaN封装半导体曲线图示仪适配夹具测试座

产品型号：CX/KX-600系列      原产地：中国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：VAMTEK提供适配岩崎IWATSU-CS3000/5000/8000系列、是德KEYSIGHT-B1500/1505/1506系列半导体参数分析仪的用于评估测量SiC/GaN MOSFET的高可靠性测试插座CX系列插座专为半导体静态参数、动态开关参数参数，以及器件HTRB 可靠性测试而设计，即使在恶劣条件下也能保持稳定的电气和机械完整性。适配封装TO247-4、TO263、TO220、TO254、TOLT、TOLG、TOLL、QDPAK、HU3PAK等

TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪

产品型号：CS-10400/10800/12800/15800      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：高电压・大电流，在CS-3100基础上加载UHV与HC