IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8000      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：采用模块式设计，电压高达2KV可调，电流达2000A 可选，最小电流分辨率优于250fA.

Vamtek先进半导体SiC/GaN封装适配夹具测试座

产品型号：CX/KX-600系列      原产地：中国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：VAMTEK提供适配岩崎IWATSU-CS3000/5000/8000系列、是德KEYSIGHT-B1500/1505/1506系列半导体参数分析仪的用于评估测量SiC/GaN MOSFET的高可靠性测试插座CX系列插座专为半导体静态参数、动态开关参数参数，以及器件HTRB 可靠性测试而设计，即使在恶劣条件下也能保持稳定的电气和机械完整性。适配封装TO247-4、TO263、TO220、TO254、TOLT、TOLG、TOLL、QDPAK、HU3PAK等

Vamtek先进半导体SiC/GaN封装适配夹具测试座

产品型号：CX/KX-600系列      原产地：日本      所属类别：功率晶体管图示仪

产品简介：VAMTEK提供适配岩崎IWATSU-CS3000/5000/8000系列、是德KEYSIGHT-B1500/1505/1506系列半导体参数分析仪的用于评估测量SiC/GaN MOSFET的高可靠性测试插座CX系列插座专为半导体静态参数、动态开关参数参数，以及器件HTRB 可靠性测试而设计，即使在恶劣条件下也能保持稳定的电气和机械完整性。适配封装TO247-4、TO263、TO220、TO254、TOLT、TOLG、TOLL、QDPAK、HU3PAK等

多通道SMU源表系统软件

产品型号：EC-201      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：EC-201是针对多通道SMU源表应用场景，面向二端、三端、四端器件与材料领域，可针对不同研究需求定制的参数测试分析测试软件。

源表型多通道半导体IV参数分析测试盒HSF-200

产品型号：HSF-200      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：HSF-100/200测试盒是专为源表与半导体参数分析仪打造的高性能测试夹具与环境解决方案。 在实验室各种仪器电磁干扰日益复杂的环境中，科研人员常面临测试数据波动大、微小信号难以捕捉的困境、一台源表无法满足测试需求，需多台同步使用，源表 需要配合如光谱仪，热冲击仪器等不同领域仪器组成复合测试系统等问题。 HSF...

TLP-16010C Pulse Generator脉冲发生器 先进传输线脉冲 ESD 测量设备

产品型号：TLP-16010C      原产地：德国      所属类别：TLP 传输线脉冲

产品简介：High Power Pulse Instruments GmbH （HPPI） 是一家基于先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量设备供应商。

TLP-16010A Pulse Generator脉冲发生器 先进传输线脉冲 ESD 测量设备

产品型号：TLP-16010A      原产地：德国      所属类别：TLP 传输线脉冲

产品简介：High Power Pulse Instruments GmbH （HPPI） 是一家基于先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量设备供应商。

TLP-12010C Pulse Generator脉冲发生器 先进传输线脉冲 ESD 测量设备

产品型号：TLP-12010C      原产地：德国      所属类别：TLP 传输线脉冲

产品简介：High Power Pulse Instruments GmbH （HPPI） 是一家基于先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量设备供应商。