TLP-3010C pulse generator 先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量

产品型号：TLP-3010C      原产地：德国      所属类别：TLP 传输线脉冲

产品简介：High Power Pulse Instruments GmbH （HPPI） 是一家基于先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量设备供应商。

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。

Intest Thermal Temptronic ATS-545-M热测试温度控制系统

产品型号：Temptronic ATS-545-M      原产地：美国      所属类别：快速温变热流仪

产品简介：ATS-545-M热测试温度控制系统热流仪：采用先进的温度源，组件，零件，混合动力，模块，快速和精确的热调节，在不使用液氮（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）下实现超低温环境，能在-80° to +225°C，精准极速升降温

PRECISE E系列源表E100/E200/E300高电压源测单元 普赛斯

产品型号：E100/E200/E300      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：高电压源测单元具有输出及测量电压高(3000V)、能输出及测量微弱电流信号(lnA)的特 点。设备工作在第一象限，输出及测量电压0~3000V ,输出及测量电流0~100mA°支持恒压 恒流工作模式，同时支持丰富的I-V扫描模式。设备可应用于IGBT击穿电压测试、IGBT动态测试母线电容充电电源、IGBT老化电源、防 雷二极管耐压测试、...

非晶纳米晶带材磁损耗测量-IWATSU B-H分析仪-非晶带材测试系统SY-956

产品型号：SY-956      原产地：日本       所属类别：B-H分析仪

产品简介：行业唯一的高频非晶带材测试系统SY-956

ARS闭循环低温物理材料真空探针台，低温至10K，极限为1.2K

产品型号：      原产地：美国      所属类别：真空极低温探针台系统

产品简介：ADVANCED RESEARCH SYSTEMS（ARS）公司的PS-CC闭循环探针台用于样品的非破坏性检测，测试灵活，广泛应用于直流（DC），射频（RF）,MEMS, 纳米电子，超导性，纳米电路的光电特性，量子点和量子线，非破坏性测试等。

IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪

产品型号：CS-10400/10800/12800/15800      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：高电压・大电流，在CS-3100基础上加载UHV与HC

FOTRIC 343X+/345X+/346X+/348X+ 云热像 数据化开启智慧运维

产品型号：343X+/345X+/346X+/348X+      原产地：中国      所属类别：红外热像仪

产品简介：云热像，慧巡检，慧定位，慧预测，慧诊断，慧管理