PRECISE HCP系列源表HCP100/HCP200/HCP300大电压台式脉冲源表 普赛斯

产品型号：HCP100/HCP200/HCP300      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：纳米材料的特性测试：石墨烯、纳米线有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器分立半导体器件的特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT 三极管、MOSFET、SIC等传感器的测试：电阻率、霍尔效应

IWATSU DM-8000H光隔离多通道12bit高压浮地隔离示波器日本岩通

产品型号：DM-8000      原产地：日本      所属类别：光隔离示波器系统

产品简介：浮动·宽频·多通道·同时测试 对应超高电压的浮地测试 *输入块、控制块和显示块用光纤电缆隔离。（DM-900A/AL， DM-910A/AL）*频率带宽：直流至500MHz.*同时多通道测量具有不同参考电位的多个通道。（2 至 24 个通道）（DM-900A/AL）*长寿命电池驱动。（系统可由三节电池驱动约12小时）（DM-900A/AL， DM-910A/AL...

IWATSU CS-10800/CS-10400 10KV-30KV日本岩崎超大功率IV曲线图示仪

产品型号：CS-10800/CS-10400      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：全球领先的功率器件静态参数分析，10KV电压，8000A电流的输出能力，特别适合于宽禁带器件，如SiC,GaN及金钢石等材料的静态参数指标评价与性能分析。

Keithley 2510 /2510-AT/2520 SourceMeter光仪器 光学SMU 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2510 /2510-AT/2520      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：通过 Keithley 仪器，可以轻松构建 LIV（光功率-电流-电压）系统，从而经济高效地测试激光二极管模块。2520 脉冲激光二极管测试系统：同步测试系统，为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT：确保通过控制其热电冷却器，为激光二极管模块提供严格的温度控制。

Cybertek OP6030(30V/50MHz) 知用 隔离电压探头

产品型号：OP6030      原产地：中国      所属类别：光隔离电压探头

产品简介：带宽(-3dB) 50MHz精度 ±2%

Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2606B      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本，2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。

Keithley SMU2650系列2651A/26527A高功率 SourceMeter® 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2651A/26527A      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件（例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件）的检定和测试而设计。 它们提供前所未有的功率、精度、速度、灵活性、易用性，可提高研发、生产测试和可靠性环境...

Apollowave a-300CS阿波罗 -60/350度高低温 RF 手动探针台系统

产品型号：a-300CS      原产地：日本      所属类别：射频微波探针台

产品简介：可以对应最大12英寸晶圆，温度-60至+350度的高频率小漏电级测试,同时支持定制RF探针卡