Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2606B 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本,2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。
快速筛选适合您使用的产品
Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2606B 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本,2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。
Apollowave α-100 阿波罗微波4英寸手动探针台
产品型号:α-100 原产地:日本 所属类别:标准手动探针台
产品简介:Offer the new standard model of alfa series with high operational advanced performance
IWATSU CS-5100,CS5200,CS5300,CS5400功率半导体I-V静态参数图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-5100/5200/5300/5400 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:用于测试IGBT,VDMOS等功率半导体的静态参数仪器,是目前市面上唯一一款能够全面替代TEKTRONIC 370系列图示仪的产品。
IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地: 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
Keithley SMU2650系列2651A/26527A高功率 SourceMeter® 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2651A/26527A 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件(例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件)的检定和测试而设计。 它们提供前所未有的功率、精度、速度、灵活性、易用性,可提高研发、生产测试和可靠性环境...
Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台
产品型号:α-300 原产地:日本 所属类别:标准手动探针台
产品简介:12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试
Apollowave a-300CS阿波罗 -60/350度高低温 RF 手动探针台系统
产品型号:a-300CS 原产地:日本 所属类别:射频微波探针台
产品简介:可以对应最大12英寸晶圆,温度-60至+350度的高频率小漏电级测试,同时支持定制RF探针卡
替代是德B1505 集成电路半导体参数分析仪曲线测试仪 IWATSU CS-8000系列
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:■最大5kV,最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 (分辨率250fA) ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试