IWATSU CS-3300 功率半导体参数分析3000V@1000A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3300 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流1000A(CS-3300大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(测量分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存至USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
IWATSU CS-3300 功率半导体参数分析3000V@1000A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3300 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流1000A(CS-3300大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(测量分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存至USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
JECTRONIC-IWATSU PHS-500C 功率半导体高温电参数自动测试系统
产品型号:PHS-500 原产地:中国 所属类别:功率晶体管图示仪
产品简介: RT-205℃ 范围内高温精准控制自动静态参数测试与曲线分析功能独立一键生成Datesheet专业报告一键生成(多)样品参数对比报表防爆、防烫、防电击, 全流程确保测试安全 系统符合AEC-Q101/AQG-324等测试标准温变条件下★BVces、★ICES、★IGES、★VCE(sat)/RDS(on)、★VGE(th)、★Transfer、★Output、★Vsd/Is等测试
IWATSU高分辨率16bit8通道示波器DS-8034/8038/8054/8058/8104/8108日本岩崎总代理
产品型号:DS-8034/8038/8054/8058/8104/8108 原产地:日本 所属类别:12bit高清数字示波器
产品简介:350Mhz,500Mhz,1Ghz 三种带宽可选大屏幕 15.6 英寸全高清直观的触控面板和按钮/旋钮 + 鼠标高达 8CH高分辨率 12 位(相当于高分辨率模式 16 位)最大内存长度 120M 点标准高速数据传输 比以往高15倍
PMK KHT1000C probe calibrator 电压探头校准信号源
产品型号:KHT1000C 原产地:德国 所属类别:标准或校准源表
产品简介:PMK 无源探头 一系列高性能微型无源探头带 BNC 连接器或 4 mm 插头以适合多种仪器。 所有探头均配有弹簧加载探针尖端 未安弹簧的实心探针随附两种尺寸的弹簧端部。 各探头均随附基本探头配件,或者作为备用套件提供。 CeramcoreTM Hybrid 探头 同轴设计 可互换弹簧端部 0.8 或 0.38 mm 直径
Agilent 34401A 是德 6位半台式 数字万用表
产品型号:34401A 原产地:美国 所属类别:数字万用表DMM
产品简介:6位半台式数字多用表,0.004%基本直流电压精度,标准GPIB和RS232接口。Agilent 34401A数字万用表以异乎寻常的经济价位建立了价格/性能的新标准,可以提供61/2数字分辨率、每秒钟1000个读数和15ppm的基本直流精度。34401A是满足你当前和今后需要的性能优良、适用面广的数字多用表。
IWATSU CS-3100 半导体参数分析仪 3000V@15A 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3100/3200/3300 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:IWATSU岩崎(岩通计测) CS-3000大功率晶体管特性图示仪,分为CS-3100/3200/3300,zui大峰值电压:3000V,zui大峰值电流:1000 A,支持漏电流(LEAKAGE)测试模式(光标分辨率:1 pA),测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数。
IWATSU VOAC7502 5位半数据记录存储功能数字万用表
产品型号:VOAC7502 原产地:日本 所属类别:数字万用表DMM
产品简介:日本原装进口,IWATSU VOAC7602 6位半高精度数据记录万用表,支持对交直流电压,电流,电阻,温度等模拟量进行测量和记录。仪器支持最大100K读取记录内存及支持外部存储器,可以满足最高100k/S的中高速数据采集与记录。仪器支持数据显示,趋势波形,统计功能,模拟仪器,直方图,限值设置等功能,特别适合于基础研发与...