TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪

产品型号：CS-10400/10800/12800/15800      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：高电压・大电流，在CS-3100基础上加载UHV与HC

N4L 功率分析仪PPA1510/PPA1510H/PPA1520/PPA1520HC/PPA1530/PPA1530HC 牛顿

产品型号：PPA1510/PPA1510H/PPA1520/PPA1520HC/PPA1530/PPA1530HC      原产地：英国      所属类别：功率分析仪

产品简介：小体积，高性价比，主流指标参数，英国品质！

PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯

产品型号：S系列      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作，因此广泛应用于各种电气特性测试：半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。

IWATSU SE-6000特高压100KV光隔离差分测量探头单元

产品型号：SE-6000      原产地：日本       所属类别：光隔离电压探头

产品简介：基于光隔离技术，高速信号同步与长续航电池组匹配组成可以适应高压，特高压，极高压测量中波形数据的捕获难题，匹配普通示波器可以简单实现超高速高压信号的准确测量。

IWATSU CS-605/603A 碳化硅器件 C-V高压5KV测试仪 日本岩崎

产品型号：CS-605/603      原产地：日本      所属类别：CV参数测试仪

产品简介：5kV（CS-605）あるいは3kV（CS-603）までの容量測定を自動化（スィープ機能付き），可以测Cies, Ciss（入力容量）、Coes, Coss（出力容量）、Cres , Crss（逆伝達容量）、 CT（端子間容量）、Cgs,Cge/Cgd,Ccg/Cds,Cce（計算値）、Rg（ゲート抵抗）

Keithley SMU2650系列2651A/26527A高功率 SourceMeter® 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2651A/26527A      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件（例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件）的检定和测试而设计。 它们提供前所未有的功率、精度、速度、灵活性、易用性，可提高研发、生产测试和可靠性环境...

Cascade DDP450系列 美博 磁吸式探针台定位器

产品型号：DDP450系列      原产地：美国      所属类别：标准手动探针台

产品简介：精密探针坐标位移调整器