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源表型多通道半导体IV参数分析测试盒HSF-200 捷创自研
产品型号:HSF-200 原产地:中国
所属类别:SMU源表
HSF-100/200测试盒是专为源表与半导体参数分析仪打造的高性能测试夹具与环境解决方案。
在实验室各种仪器电磁干扰日益复杂的环境中,科研人员常面临测试数据波动大、微小信号难以捕捉的困境、一台源表无法满足测试需求,需多台同步使用,源表 需要配合如光谱仪,热冲击仪器等不同领域仪器组成复合测试系统等问题。
HSF系列测试盒屏蔽干扰、数据稳定、可配合多台源表、集成不同领域仪器则是目前解决这些问题的一个优秀的方案
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