CX系列测试座可以用于准确评估TO-3P 和TO-247 封装功率器件的性能，这对于开发和制造至关重要。我们的测试插座提供创新技术和高可靠性，可最大限度地准确评价采用SiC（碳化硅）和GaN（氮化镓）等下一代半导体材料构建的MOSFET 的性能。我们的CX系列插座专为半导体静态参数、动态开关参数参数，以及器件HTRB 可靠性测试而设计，即使在恶劣条件下也能保持稳定的电气和机械完整性。

1.兼容性好、兼容市面上以IWATSU-CS3000/5000/8000系列、是德KEYSIGHT-B1500/1505/1506系列半导体参数分析仪。

2.测试座全部采用开尔文式连接，可将电流路径与电压测量路径隔离开来，这消除了接线和接触电阻对测量的影响，确保了高精度测量。

3.可耐高低温（-55-220℃）温度变化下测试座本身影响小，在各种恶劣条件下依旧保有稳定的机械特性与电气特性，可用于可靠性等测试。

4.低杂感低Ls，用于动态开关特性测试数据稳定，干扰更小。

5.低内阻，用于静态测试时更低的噪声，更小的泄露电流，保障您更精准的测量。（特别是精准测量SiC RdsON ）。

6.低释气材料适合洁净室使用、污染小。

7.适配封装丰富，适配各种DIP、SMD封装、各种SiC、GaN封装。

8.耐大电流、高压，可耐最大DC50A电流，DC2500V（1min，25℃）最大DC5000V

9.可定制或与客户共同开发

适配岩崎IWATSU-CS3000/5000/8000系列、是德KEYSIGHT-B1500/1505/1506系列半导体参数分析仪、曲线图示仪

适配封装TO247-4、TO263、TO220、TO254、TOLT、TOLG、TOLL、QDPAK、HU3PAK等

选型请参考资源下载页面中文件或是电话联系咨询

uploadfile/2025/0917/20250917044358406.pdf