功率器件温度变化下电学特性测试：保障性能与可靠性的关键

2025-09-28 111

在功率电子领域，温度是所有设计工程师的核心考量因素。功率器件的温度特性直接决定了整个电子系统的性能、效率和可靠性，测试温度特性不仅是预防热失效的必要手段，更是优化系统设计的关键依据。

岩崎b-h分析可以检测哪些项目

2024-01-18 102

CROSS-POWER方式 IEC-62044-3 国际标准测试方法，支持脉冲与交流两种模式，适用于硅钢片、铁硅铝，非晶，非晶纳米晶，镍锌及锰锌铁氧体等材料 ，特别适合于高频功率参考材料。

T&M CVR高频同轴分流器技术信息说明

2024-01-16 96

CVR s are rugged high frequency resistors designed to sustain the very high peak power and current inputs generated by capacitor banks, pulse generator systems, and steady state current loads

Vitrek V74 AC/DC/IR/GB Hipot Tester. 5KVAC/DC/IR & 30A GB Electrical Safety tester

2024-05-26 91

V70Vitrek AC Hipot Tester 5KVAC Electrical Safety tester with continuity Comes with: TL-209, Power Cord, Operating Manual, QTPro-7 45 Day Free Trial, NIST Traceable calibration certificate without data ISO 17025 accredited calibr

SiC器件-芯片可靠性之经时介电层击穿（Time Dependent Dielectric Breakdown,TDDB）测试

2024-06-12 878

当栅氧化层在偏压条件下工作时，其漏电流会逐渐增加，最后导致击穿，从而使栅氧化层失去绝缘功能。一般情况下，栅氧化层的可靠性测试是在恒定电压下进行的，这种失效模式被称为时间相关的介电层击穿(TimeDependentDielectricBreakdown,TDDB)。非本...

BH分析仪和阻抗分析仪有什么区别

2024-01-06 28

阻抗分析仪是一款小信号(数十mA)的电子元件参数测量装置，可测量磁性元件的Q、R、Z等的参数。而B-H分析仪的测量范围从小信号至大信号(5mA～6A)，可测量磁性元件的B-H曲线、铁芯损耗、磁导率等软磁性体的磁力特性值。B-H分析仪适用于磁性元件实际驱...