Apollowave MJ-3000 阿波罗 无液氮真空低温探针台系统

产品型号：MJ-3000      原产地：日本      所属类别：真空极低温探针台系统

产品简介：可以无需要液氮进行－180℃～＋100℃ 的高低温真空探针测试。

Apollowave α-100 阿波罗微波4英寸手动探针台

产品型号：α-100      原产地：日本      所属类别：标准手动探针台

产品简介：Offer the new standard model of alfa series with high operational advanced performance

Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台

产品型号：α-300       原产地：日本      所属类别：标准手动探针台

产品简介：12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试

APOLLOWAVE M40 手动探针台精密 XYZ三轴可调探针座

产品型号：M40      原产地：日本      所属类别：磁吸探针座

产品简介：精密千分表式XYZ三轴可调整探针座

APOLLOWAVE M30 手动探针台精密 XYZ三轴可调探针座

产品型号：M30      原产地：日本      所属类别：磁吸探针座

产品简介：XYZ 三轴精密可调探针座

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。

Apollowave AP-200 阿波罗微波高功率探针台

产品型号：AP-200      原产地：日本      所属类别：半自动探针台

产品简介：Corresponding to 15KV-30KV, 200A　 Keep the low current even for High voltage. Keep the low current with 350 deg.C High Temperature Chuck Top for Low contact resistance

Apollowave a-300CS阿波罗 -60/350度高低温 RF 手动探针台系统

产品型号：a-300CS      原产地：日本      所属类别：射频微波探针台

产品简介：可以对应最大12英寸晶圆，温度-60至+350度的高频率小漏电级测试,同时支持定制RF探针卡