IWATSU CS-8000系列半导体参数分析仪曲线测试仪 替代是德B1505A-B1506A

产品型号：CS-8000      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：■最大5kV，最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 （分辨率250fA） ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试

IWATSU VOAC7602/7502 6位半带数据记录仪数字万用表

产品型号：VOAC7602      原产地：日本      所属类别：数字万用表DMM

产品简介：IWATSU VOAC7602 产品是一款具备数据记录功能的高分辨率6位半数字万用表，支持以高分辨率数字实时显示，数据统计显示，数据自动判断，数据记录功能，数据趋势显示功能。

TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

ARS闭循环低温物理材料真空探针台，低温至10K，极限为1.2K

产品型号：      原产地：美国      所属类别：真空极低温探针台系统

产品简介：ADVANCED RESEARCH SYSTEMS（ARS）公司的PS-CC闭循环探针台用于样品的非破坏性检测，测试灵活，广泛应用于直流（DC），射频（RF）,MEMS, 纳米电子，超导性，纳米电路的光电特性，量子点和量子线，非破坏性测试等。

IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪

产品型号：CS-10400/10800/12800/15800      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：高电压・大电流，在CS-3100基础上加载UHV与HC

PMK PHV-1000-RO 1000:1 高压400MHZ可调节探头

产品型号：PHV-1000-RO      原产地：德国      所属类别：示波器电压探头

产品简介：1000:1 高压400MHZ探头

泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪

产品型号：2600-PCT-4B      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。

PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯

产品型号：S系列      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作，因此广泛应用于各种电气特性测试：半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。