Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台

产品型号：α-300       原产地：日本      所属类别：标准手动探针台

产品简介：12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试

IWATSU CS-8000系列半导体参数分析仪曲线测试仪 替代是德B1505A-B1506A

产品型号：CS-8000      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：■最大5kV，最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 （分辨率250fA） ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试

Vamtek先进半导体SiC/GaN封装半导体曲线图示仪适配夹具测试座

产品型号：CX/KX-600系列      原产地：中国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：VAMTEK提供适配岩崎IWATSU-CS3000/5000/8000系列、是德KEYSIGHT-B1500/1505/1506系列半导体参数分析仪的用于评估测量SiC/GaN MOSFET的高可靠性测试插座CX系列插座专为半导体静态参数、动态开关参数参数，以及器件HTRB 可靠性测试而设计，即使在恶劣条件下也能保持稳定的电气和机械完整性。适配封装TO247-4、TO263、TO220、TO254、TOLT、TOLG、TOLL、QDPAK、HU3PAK等

IWATSU VOAC7602/7502 6位半带数据记录仪数字万用表

产品型号：VOAC7602      原产地：日本      所属类别：数字万用表DMM

产品简介：IWATSU VOAC7602 产品是一款具备数据记录功能的高分辨率6位半数字万用表，支持以高分辨率数字实时显示，数据统计显示，数据自动判断，数据记录功能，数据趋势显示功能。

TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

HSP-100 型源表适配高精度屏蔽信号测试盒

产品型号：HSP-100      原产地：中国      所属类别：高低温电性能仿真H3TRx

产品简介：特别为源表应用开发的多通道测试盒， 支持所有品牌SMU ，同时可以适配Keithley 4200-SCS ,Keysight B1500A 等型号半导体参数分析仪。

IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪

产品型号：CS-10400/10800/12800/15800      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：高电压・大电流，在CS-3100基础上加载UHV与HC

PMK PHV-1000 400MHZ 6KV高压示波器探头 德国

产品型号：PHV-1000      原产地：德国      所属类别：示波器电压探头

产品简介：PMK 无源探头 一系列高性能微型无源探头带 BNC 连接器或 4 mm 插头以适合多种仪器。 所有探头均配有弹簧加载探针尖端 未安弹簧的实心探针随附两种尺寸的弹簧端部。 各探头均随附基本探头配件，或者作为备用套件提供。 CeramcoreTM Hybrid 探头 同轴设计 可互换弹簧端部 0.8 或 0.38 mm 直径。