产品信息

TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

Vamtek稳泰SiC/GaN-QDPAK、TOLL封装半导体曲线图示仪测试座

产品型号：CX-600系列      原产地：中国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：VAMTEK提供适配岩崎IWATSU-CS3000/5000/8000系列、是德KEYSIGHT-B1500/1505/1506系列半导体参数分析仪的用于评估测量SiC/GaN MOSFET的高可靠性测试插座适配封装TO247-4、TO263、TO220、TO254、TOLT、TOLG、TOLL、QDPAK、HU3PAK等

IWATSU SY-5001A高频双极性功率放大器 SY-8264 专用配套

产品型号：SY-8264+SY-600 10Mhz 高频交流B-H分析仪      原产地：日本      所属类别：B-H分析仪

产品简介：4-Quadrant Power Amplifier for use with IWATSU® SY-821x and SY-8264, DC – 5 MHz, ±150 V, ±6 A, 800 V/µs, GPIB-, USB- Interface

IWATSU SY-8218\SY-8219 岩崎软磁交流B-H磁芯损耗POWER LOSS分析仪

产品型号：SY-8219/SY-8218       原产地：日本      所属类别：B-H分析仪

产品简介：磁特性的磁通密度B（以T为单位），磁场强度H（为A/m为单位）采用普遍的X-Y轴，这里被描述的曲线称为B-H曲线。作为测量B-H曲线的方法，有直流的评估方法和交流的评估方法。 我司现有连贯交流的测量方法，是交流情况下测试磁材料的B-H曲线。此项功能受到许多用户的支持。因此，现在的交流B-H曲线示踪器被确定为“B-H分析仪”。

IWATSU SY-8260系列 SY-8264型 30Mhz B-H分析仪高频磁损耗系统

产品型号：SY-8260      原产地：日本      所属类别：B-H分析仪

产品简介：IWATSU 最新款B-H 分析仪，将于2026年上半年正式对中国市场发布。支持多种频率带宽选项 10hz-1Mhz ,10hz-10Mhz ,10hz-30Mhz  完全兼容SY-8219 ,SY-8218 型B-H 分析仪及原系统高低温自动扫描系统 SY-320A,SY-321A,SY-330A ，DC BIAS 直流偏置损耗评价系统SY-960, SY-961 ,SY-962 , 功率放大器 SY-5001 等

PMK萤火虫FireFly® FF-1500 1.5Ghz 高CMRR(180dB) 高压2500V 光隔离探头

产品型号：FF-1500      原产地：德国      所属类别：光隔离电压探头

产品简介：FireFly® 高压光隔离探头是业界领先的新解决方案，可在大共模电压下精确解析高带宽差分信号，并在整个带宽内具有极高的共模抑制。凭借 >1.5 GHz 的一流带宽、宽差分输入电压范围、高达 >180dB（10 亿比 1 抑制）的无与伦比的 CMRR 和 60kV 共模，FireFly® 是理想的测量解决方案GaN 和 SiC 器件的表征和系统级设计开发。

IWATSU SE-6000 / SE-6010光隔离4通道浮地高压探头组-日本岩崎

产品型号：IWATSU SE-6000      原产地：日本      所属类别：光隔离示波器系统

产品简介：

T&M SSDN/SDN 双脉冲用同轴高频精密分流器

产品型号：T&M SSDN/SDN      原产地：美国      所属类别：无感-同轴分流器

产品简介：T&M的CRV高频宽带分流器是全球领先低感抗，高速，宽带电流分流器，电阻阻值范围从0.5欧姆到10u(微)欧姆，频率范围从DC到2GH， 最快可测量皮秒(ps)级的脉冲电流，电阻精度从4%，2%，1%到0.2%可选。