IWATSU CS-3200 功率半导体参数分析3000V@400A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3200 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流400A(CS-3200大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
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IWATSU CS-3200 功率半导体参数分析3000V@400A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3200 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流400A(CS-3200大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2606B 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本,2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。
Apollowave α-100 阿波罗微波4英寸手动探针台
产品型号:α-100 原产地:日本 所属类别:标准手动探针台
产品简介:Offer the new standard model of alfa series with high operational advanced performance
IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地: 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台
产品型号:α-300 原产地:日本 所属类别:标准手动探针台
产品简介:12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试
LECROY wavesurfer 4054HD/4104HD 力科12bit 高分辨率示波器
产品型号:WS4034HD,WS-4024HD 原产地:美国 所属类别:12bit高清数字示波器
产品简介:WaveSurfer 4000HD 使用力科HD4096 技术,提供行业领先的全时12-bits 分辨率,还包含全面的数学运算、测量、工具包及分析功能。WaveSurfer4000HD 兼具优异性能、全面的分析能力和极高的性价比。
Cascade TESLA 200 美博 大功率8英寸半自动探针台
产品型号:TESLA 200 原产地:美国 所属类别:半自动探针台
产品简介:TESLA 系列专门为新型功率器件的开发与生产品质检查而开发,特别适合于高电压,大电流 的功率型器件和晶圆的测试方向 。
联讯仪器 S0342C 四通道PXIe插卡式源表 精密电源/测量单元±30 V、±500 mA(直流/脉冲)
产品型号:S0342C 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:联讯仪器S0342C 结构紧凑、经济高效的四通道PXIe 电源/测量单元,能够同时输出和测量电压和电流,能够提供最大±30V、±500mA(直流/脉冲),支持传统的 SMU SCPI 命令,让测试代码的迁移变得轻松快捷,支持现有大厂的 PXIe 机箱,可支持多卡同步,集成到生产测试系统中使用,以提高系统的测试效率并降低成本。