高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。

APOLLOWAVE M40 手动探针台精密 XYZ三轴可调探针座

产品型号：M40      原产地：日本      所属类别：磁吸探针座

产品简介：精密千分表式XYZ三轴可调整探针座

IWATSU岩通计测DS-5654/5634/5624岩崎高精数字示波器

产品型号：DS-5400/5600/5100      原产地：日本      所属类别：基础数字示波器

产品简介：IWATSU 岩通计测DS-5600数字示波器产品，是由IWATSU日本原装生产，力高捷创仪器授权中国销售。

IWATSU DS-5614/5624/5634/5654 数字示波器4通道 岩崎

产品型号：DS-5614/5624/5634/5654      原产地：美国      所属类别：基础数字示波器

产品简介：IWATSU 观察信号波形是示波器最重要的功能。ViewGo以我们在模拟示波器工程领域的长期经验为后盾，采用一流设计工艺精制而成

IWATSU SE-6000特高压100KV光隔离差分测量探头单元

产品型号：SE-6000      原产地：日本       所属类别：光隔离电压探头

产品简介：基于光隔离技术，高速信号同步与长续航电池组匹配组成可以适应高压，特高压，极高压测量中波形数据的捕获难题，匹配普通示波器可以简单实现超高速高压信号的准确测量。

IWATSU DM-8000H光隔离多通道12bit高压浮地隔离示波器日本岩通

产品型号：DM-8000      原产地：日本      所属类别：光隔离示波器系统

产品简介：浮动·宽频·多通道·同时测试 对应超高电压的浮地测试 *输入块、控制块和显示块用光纤电缆隔离。（DM-900A/AL， DM-910A/AL）*频率带宽：直流至500MHz.*同时多通道测量具有不同参考电位的多个通道。（2 至 24 个通道）（DM-900A/AL）*长寿命电池驱动。（系统可由三节电池驱动约12小时）（DM-900A/AL， DM-910A/AL...

Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2606B      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本，2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。

Cascade TESLA 200 美博 大功率8英寸半自动探针台

产品型号：TESLA 200       原产地：美国      所属类别：半自动探针台

产品简介：TESLA 系列专门为新型功率半导体的开发与生产品质检查而开发，特别适合于高电压，大电流的功率型半导体晶圆的测试方向 。