IWATSU SE-6000 / SE-6010光隔离4通道浮地高压探头组-日本岩崎
产品型号:IWATSU SE-6000 原产地:日本 所属类别:光隔离示波器系统
产品简介:
IWATSU SE-6000 / SE-6010光隔离4通道浮地高压探头组-日本岩崎
产品型号:IWATSU SE-6000 原产地:日本 所属类别:光隔离示波器系统
产品简介:
Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台
产品型号:α-300 原产地:日本 所属类别:标准手动探针台
产品简介:12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试
IWATSU DS-5612A/5622A/5632A/5652A 12bit数字示波器 日本岩崎
产品型号:DS-5612/5622/5632/5652 原产地:日本 所属类别:基础数字示波器
产品简介:IWATSU 观察信号波形是示波器最重要的功能。ViewGo以我们在模拟示波器工程领域的长期经验为后盾,采用一流设计工艺精制而成
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
APOLLOWAVE M40 手动探针台精密 XYZ三轴可调探针座
产品型号:M40 原产地:日本 所属类别:磁吸探针座
产品简介:精密千分表式XYZ三轴可调整探针座
IWATSU岩通计测DS-5654/5634/5624岩崎高精数字示波器
产品型号:DS-5400/5600/5100 原产地:日本 所属类别:基础数字示波器
产品简介:IWATSU 岩通计测DS-5600数字示波器产品,是由IWATSU日本原装生产,力高捷创仪器授权中国销售。
IWATSU DS-5614/5624/5634/5654 数字示波器4通道 岩崎
产品型号:DS-5614/5624/5634/5654 原产地:美国 所属类别:基础数字示波器
产品简介:IWATSU 观察信号波形是示波器最重要的功能。ViewGo以我们在模拟示波器工程领域的长期经验为后盾,采用一流设计工艺精制而成