泰克-吉时利Keithley 半导体参数自动化检定套件 (ACS) 软件
产品型号:ACS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:Keithley 自动化检定套件 (ACS) 软件吉时利自动化检定套件 (ACS) 是灵活的交互式软件测试环境,可用于器件检定、参数化测试、可靠性测试,甚至简单的功能测试。ACS 支持各种吉时利仪器和系统、硬件配置和测试设置,从用于 QA 实验室的一些台式仪器到完全集成且基于机架的自动化测试系统。利用 ACS,用户可使用...
泰克-吉时利Keithley 半导体参数自动化检定套件 (ACS) 软件
产品型号:ACS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:Keithley 自动化检定套件 (ACS) 软件吉时利自动化检定套件 (ACS) 是灵活的交互式软件测试环境,可用于器件检定、参数化测试、可靠性测试,甚至简单的功能测试。ACS 支持各种吉时利仪器和系统、硬件配置和测试设置,从用于 QA 实验室的一些台式仪器到完全集成且基于机架的自动化测试系统。利用 ACS,用户可使用...
PRECISE CS系列源表CS100/CS200/CS300/CS400/CBI401及CBI402子卡 普赛斯
产品型号:CS100、CS200、CS300、CS400、CBI401及CBI402子卡 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:普赛斯插卡式设备具有通道密度高、同步触发功能强、多设备组合效率高等特点。普赛斯插卡式主机采用自定义框架,背板总线带宽高达3Gbps,支持16路触发总线,满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡,方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通信支持串口、以太网及GPIB。
泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪
产品型号:2600-PCT-4B 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件,需要全面的器件级检定,如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪(代替原晶体管图示仪)支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电压曲线测试(CV曲线测试)和高功率脉冲IV曲线测量。
IWATSU 半导体参数自动化测量软件 CS-810
产品型号:CS-810 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:实现测量自动化并提高效率!半导体参数测量软件 CS-810以往很多项目都是分别通过手动操作先执行设置,完成之后再花费大量的时间执行测量,而采用IWATSU半导体参数测量软件 CS-810的话,即可轻松且自动执行测量,测试条件与结果也可作为依据保存。
PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯
产品型号:S系列 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表,集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作,因此广泛应用于各种电气特性测试:半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。
NGI N2600系列数字源表替代KEITHLEY 4200 直流与脉冲源 恩智
产品型号:N2600 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:N2600系列数字源表是NGI专门针对要求紧密结合源和测量的测试场景而研发的国产化源表。该系列产品集5台仪器(电压源、电流源、IVR测量)功能于一体,能输出超高精度的电压源和电流源并提供测量功能,测量分辨率达6位半;N2600系列产品内置多种功能软件,具备电源输出精度高、响应速度快、信号纯净、纹波噪声低等优点,可...
同惠电子TH1992B、TH1992、TH1991 高精度源表
产品型号:TH1992B、TH1992、TH1991 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:TH1991/TH1992系列精密源/测量电源,可同时输出并测量电压和电流,在仪器中集成了电流源、电压源、电压表、电流表功能,各功能可任意切换。还可输出高达±210V直流电压、±3A直流电流以及±10.5A脉冲电流、最小10fA/100nV的电源和测量分辨率,支持高速采样,可生成任意波形。
PRECISE HCP系列源表HCP100/HCP200/HCP300大电压台式脉冲源表 普赛斯
产品型号:HCP100/HCP200/HCP300 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:纳米材料的特性测试:石墨烯、纳米线有机材料特性测试:电子墨水、印刷电子技术能量与效率特性测试:LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器分立半导体器件的特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT 三极管、MOSFET、SIC等传感器的测试:电阻率、霍尔效应