IWATSU CS-10800/CS-10400 10KV-30KV日本岩崎超大功率IV曲线图示仪
产品型号:CS-10800/CS-10400 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:全球领先的功率器件静态参数分析,10KV电压,8000A电流的输出能力,特别适合于宽禁带器件,如SiC,GaN及金钢石等材料的静态参数指标评价与性能分析。
IWATSU CS-10800/CS-10400 10KV-30KV日本岩崎超大功率IV曲线图示仪
产品型号:CS-10800/CS-10400 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:全球领先的功率器件静态参数分析,10KV电压,8000A电流的输出能力,特别适合于宽禁带器件,如SiC,GaN及金钢石等材料的静态参数指标评价与性能分析。
GWINSTEK固纬GSM-20H10数字源表
产品型号:GSM-20H10 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:GSM-20H10提供±210V / ±1.05A / 22W的四象限操作。在第一象限和第三象限,它们作为电源运行,为负载供电。在第二和第四象限,它们作为负载使用,在内部耗散功率。而电压值、电流值和电阻值可以在电源或负载操作期间进行量测,其准确度高达0.012%并且分辨率可达1µV/10pA/10µΩ。
Keithley 2510 /2510-AT/2520 SourceMeter光仪器 光学SMU 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2510 /2510-AT/2520 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:通过 Keithley 仪器,可以轻松构建 LIV(光功率-电流-电压)系统,从而经济高效地测试激光二极管模块。2520 脉冲激光二极管测试系统:同步测试系统,为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT:确保通过控制其热电冷却器,为激光二极管模块提供严格的温度控制。
IWATSU CS-605/603A 碳化硅器件 C-V高压5KV测试仪 日本岩崎
产品型号:CS-605/603 原产地:日本 所属类别:CV参数测试仪
产品简介:5kV(CS-605)あるいは3kV(CS-603)までの容量測定を自動化(スィープ機能付き),可以测Cies, Ciss(入力容量)、Coes, Coss(出力容量)、Cres , Crss(逆伝達容量)、 CT(端子間容量)、Cgs,Cge/Cgd,Ccg/Cds,Cce(計算値)、Rg(ゲート抵抗)
Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2606B 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本,2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。
Keithley SMU2650系列2651A/26527A高功率 SourceMeter® 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2651A/26527A 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件(例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件)的检定和测试而设计。 它们提供前所未有的功率、精度、速度、灵活性、易用性,可提高研发、生产测试和可靠性环境...
PHS-500 TO封装型SiC功率单管器件温度@电参数自动测试系统 捷创自研
产品型号:PHS-500 原产地:中国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:175℃高温精准控制,自动静态参数测试,一键生成Datesheet专业报告,全流程确保测试安全系统符合AEC-Q101/AQG-324等测试标准温变下★BVces、★ICES、★IGES、★VCE(sat)/RDS(on)、★VGE(th)、★Transfer、★Output、★Vsd/Is等测试
同惠电子TH510系列TH511、TH512、TH513 半导体C-V特性分析仪
产品型号:TH510系列TH511、TH512、TH513 原产地:中国 所属类别:CV参数测试仪
产品简介:TH510系列半导体C-V特性分析仪是同惠电子针对半导体材料及器件生产与研发的分析仪器。TH510系列半导体C-V特性分析仪创新性地采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1英寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,适用于生产线快速分选、自动化集成测试及满足实验室研发及分析。