IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
IWATSU CS-5100,CS5200,CS5300,CS5400功率半导体I-V静态参数图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-5100/5200/5300/5400 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:用于测试IGBT,VDMOS等功率半导体的静态参数仪器,是目前市面上唯一一款能够全面替代TEKTRONIC 370系列图示仪的产品。
IWATSU CS-3300 功率半导体参数分析3000V@1000A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3300 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流1000A(CS-3300大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(测量分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存至USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
KEYSIGHT B1505A 10KV-1500A 是德功率半导体参数分析仪 Qg
产品型号:B1505A 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:Agilent B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪是一款适合功率器件测试的综合解决方案,具有 sub-pA 至 10 kV/1500 A 的宽测量范围,并可提供精密的 µÙ 导通测量功能。此外,其 10 µs 快速脉冲功能能够执行完整的功率器件表征,并对新功率器件(例如 IGBT )和宽带隙材料(例如,碳化硅(SiC)和氮化镓(G...
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
JECTRONIC-IWATSU PHS-500C 功率半导体高温电参数自动测试系统
产品型号:PHS-500 原产地:中国 所属类别:功率晶体管图示仪
产品简介: RT-205℃ 范围内高温精准控制自动静态参数测试与曲线分析功能独立一键生成Datesheet专业报告一键生成(多)样品参数对比报表防爆、防烫、防电击, 全流程确保测试安全 系统符合AEC-Q101/AQG-324等测试标准温变条件下★BVces、★ICES、★IGES、★VCE(sat)/RDS(on)、★VGE(th)、★Transfer、★Output、★Vsd/Is等测试
Vamtek HSF-200 源表型多通道半导体IV参数分析测试盒
产品型号:HSF-200 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:HSF-100/200测试盒是专为源表与半导体参数分析仪打造的高性能测试夹具与环境解决方案。 在实验室各种仪器电磁干扰日益复杂的环境中,科研人员常面临测试数据波动大、微小信号难以捕捉的困境、一台源表无法满足测试需求,需多台同步使用,源表 需要配合如光谱仪,热冲击仪器等不同领域仪器组成复合测试系统等问题。 HSF...
IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:采用模块式设计,电压高达2KV可调,电流达2000A 可选,最小电流分辨率优于250fA.