产品信息

IWATSU CS-8000系列半导体参数分析仪曲线测试仪 替代是德B1505A-B1506A

产品型号：CS-8000      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：■最大5kV，最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 （分辨率250fA） ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试

Keithley 2600B系列2601B/2602B/2604B/2611B/2612B/2614B /2634B/2635B/2636B SMU仪器 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2601B/2602B/2604B/2611B/2612B/2614B /2634B/2635B/2636B      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是业界标准电流-电压源和测量解决方案，适用于高度自动化生产测试应用。 双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。 另外，TSP® 技术可运行完整测试程序，适用于自动化系统应用，TSP-链路®技术允许菊花式链接最多 64...

HSF-100 型源表适配高精度屏蔽信号测试盒

产品型号：HSF-100      原产地：中国      所属类别：高低温电性能仿真H3TRx

产品简介：特别为源表应用开发的多通道测试盒， 支持所有品牌SMU ，同时可以适配Keithley 4200-SCS ,Keysight B1500A 等型号半导体参数分析仪。

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。

IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪

产品型号：CS-10400/10800/12800/15800      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：高电压・大电流，在CS-3100基础上加载UHV与HC

泰克-吉时利Keithley 半导体参数自动化检定套件 (ACS) 软件

产品型号：ACS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：Keithley 自动化检定套件 (ACS) 软件吉时利自动化检定套件 (ACS) 是灵活的交互式软件测试环境，可用于器件检定、参数化测试、可靠性测试，甚至简单的功能测试。ACS 支持各种吉时利仪器和系统、硬件配置和测试设置，从用于 QA 实验室的一些台式仪器到完全集成且基于机架的自动化测试系统。利用 ACS，用户可使用...

PRECISE CS系列源表CS100/CS200/CS300/CS400/CBI401及CBI402子卡 普赛斯

产品型号：CS100、CS200、CS300、CS400、CBI401及CBI402子卡      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：普赛斯插卡式设备具有通道密度高、同步触发功能强、多设备组合效率高等特点。普赛斯插卡式主机采用自定义框架，背板总线带宽高达3Gbps，支持16路触发总线，满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡，方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通信支持串口、以太网及GPIB。

PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯

产品型号：S系列      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作，因此广泛应用于各种电气特性测试：半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。