产品信息

Vamtek HSF-200 源表型多通道半导体IV参数分析测试盒

产品型号：HSF-200      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：HSF-100/200测试盒是专为源表与半导体参数分析仪打造的高性能测试夹具与环境解决方案。 在实验室各种仪器电磁干扰日益复杂的环境中，科研人员常面临测试数据波动大、微小信号难以捕捉的困境、一台源表无法满足测试需求，需多台同步使用，源表 需要配合如光谱仪，热冲击仪器等不同领域仪器组成复合测试系统等问题。 HSF...

IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8000      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：采用模块式设计，电压高达2KV可调，电流达2000A 可选，最小电流分辨率优于250fA.

Easycon 201S 多通道SMU源表系统软件 捷创自研

产品型号：EC-201      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：EasyCon-201是针对多通道SMU源表应用场景，面向二端、三端、四端器件与材料领域，可针对不同研究需求定制的参数测试分析测试软件。

IWATSU 功率半导体静态参数分析仪 CS-3100/3200/3300 IGBT曲线图示 日本岩通计测

产品型号：CS-3000/3200/3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,最大峰值电压：3000V，最大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数,。

IWATSU CS-3100 半导体参数分析仪 3000V@15A 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3100/3200/3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,zui大峰值电压：3000V，zui大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数。

IWATSU CS-8000系列半导体参数分析仪曲线测试仪 替代是德B1505A-B1506A

产品型号：CS-8000      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：■最大5kV，最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 （分辨率250fA） ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。

IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪

产品型号：CS-10400/10800/12800/15800      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：高电压・大电流，在CS-3100基础上加载UHV与HC