TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

IWATSU CS-3100 半导体参数分析仪 3000V@15A 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3100/3200/3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,zui大峰值电压：3000V，zui大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数。

IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8500      原产地：      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。

联讯仪器 S0342C 四通道PXIe插卡式源表 精密电源/测量单元±30 V、±500 mA（直流/脉冲）

产品型号：S0342C      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：联讯仪器S0342C 结构紧凑、经济高效的四通道PXIe 电源/测量单元，能够同时输出和测量电压和电流，能够提供最大±30V、±500mA(直流/脉冲)，支持传统的 SMU SCPI 命令，让测试代码的迁移变得轻松快捷，支持现有大厂的 PXIe 机箱，可支持多卡同步，集成到生产测试系统中使用，以提高系统的测试效率并降低成本。

联讯仪器 S2019C 四通道PXIe插卡式源表 精密电源/测量单元±40 V、±500 mA（直流）、±1A（脉冲）

产品型号：S2019C      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：联讯仪器S2019C 结构紧凑、经济高效的四通道PXIe 电源/测量单元，能够同时输出和测量电压和电流，能够提供最大±40V、±500mA(直流）、±1A（脉冲)，支持传统的 SCPI 命令，让测试代码的迁移变得轻松快捷，支持现有大厂的 PXIe 机箱，可支持多卡同步，集成到生产测试系统中使用，以提高系统的测试效率并降低成本。

联讯仪器 S2021H 高精度台式源表 四通道精密电源/测量单元 ±30 V、±500 mA（直流、脉冲）

产品型号：S2021H      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：联讯仪器S2021H精密电源/测量单元是紧凑、经济高效的4通道台式电源/测量单元(SMU)，能够同时输出并测量电压和电流，能够提供最大±30V、±500 mA（直流/脉冲）输出以及卓越的彩色LCD图形用户界面(GUI)。

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。