TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
Vamtek HSF-K13系列功率半导体B1506A夹具&Cx系列测试座
产品型号:HSF-K13 原产地:中国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:专业级拓展测试方案,专为是德科技B1506A/B1505A功率器件分析仪量身打造,提供高精度、高兼容性、高可靠性的一站式功率半导体测试解决方案。
PHS-500 TO封装型SiC功率单管器件温度@电参数自动测试系统 捷创自研
产品型号:PHS-500 原产地:中国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:175℃高温精准控制,自动静态参数测试,一键生成Datesheet专业报告,全流程确保测试安全系统符合AEC-Q101/AQG-324等测试标准温变下★BVces、★ICES、★IGES、★VCE(sat)/RDS(on)、★VGE(th)、★Transfer、★Output、★Vsd/Is等测试
Vamtek稳泰SiC/GaN-QDPAK、TOLL封装半导体曲线图示仪测试座
产品型号:CX-600系列 原产地:中国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:VAMTEK提供适配岩崎IWATSU-CS3000/5000/8000系列、是德KEYSIGHT-B1500/1505/1506系列半导体参数分析仪的用于评估测量SiC/GaN MOSFET的高可靠性测试插座适配封装TO247-4、TO263、TO220、TO254、TOLT、TOLG、TOLL、QDPAK、HU3PAK等
IWATSU SY-8264+SY-602 30Mhz 高频交流B-H分析仪
产品型号:SY-8264+SY-600 10Mhz 高频交流B-H分析仪 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪
产品简介:SY-8264型B-H分析仪是2025年正式向全球市场销售的最新一代B-H分析仪,其性能指标完全覆盖原SY-8218,SY-8219系列产品,并在硬件,软件,架构等核心板块做了重大升级,以适应目前高频电力电子应用对高频磁性材料的损耗及磁参数的要求;SY-8264采用模块化架构,基本机架为10Hz~1Mhz; 客户可以通过配置SY-600系列不同规格...
IWATSU SY-8264+SY-601 20Mhz 高频交流B-H分析仪
产品型号:SY-8264+SY-600 10Mhz 高频交流B-H分析仪 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪
产品简介:SY-8264型B-H分析仪是2025年正式向全球市场销售的最新一代B-H分析仪,其性能指标完全覆盖原SY-8218,SY-8219系列产品,并在硬件,软件,架构等核心板块做了重大升级,以适应目前高频电力电子应用对高频磁性材料的损耗及磁参数的要求;SY-8264采用模块化架构,基本机架为10Hz~1Mhz; 客户可以通过配置SY-600系列不同规格...
IWATSU SY-8264+SY-600 10Mhz 高频交流B-H分析仪替代停产SY-8218
产品型号:SY-8264+SY-600 10Mhz 高频交流B-H分析仪 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪
产品简介:SY-8264型B-H分析仪是2025年正式向全球市场销售的最新一代B-H分析仪,其性能指标完全覆盖原SY-8218,SY-8219系列产品,并在硬件,软件,架构等核心板块做了重大升级,以适应目前高频电力电子应用对高频磁性材料的损耗及磁参数的要求;SY-8264采用模块化架构,基本机架为10Hz~1Mhz; 客户可以通过配置SY-600系列不同规格...
IWATSU SY-5001A高频双极性功率放大器 SY-8264 专用配套
产品型号:SY-8264+SY-600 10Mhz 高频交流B-H分析仪 原产地:日本 所属类别:B-H分析仪
产品简介:4-Quadrant Power Amplifier for use with IWATSU® SY-821x and SY-8264, DC – 5 MHz, ±150 V, ±6 A, 800 V/µs, GPIB-, USB- Interface