快速联系>

咨询热线

0731-85260926 18665876229

EN
功率晶体管图示仪 半导体参数分析仪 SMU源表 动态参数测试系统 CV参数测试仪 门极电荷Qg测试仪 WAT晶圆可接受度测试系统 TLP 传输线脉冲 EMMI 微光红外故障定位 HCI/BTI/TDDB/EM效应 飞安表/静电计/高阻计 高低温电性能仿真H3TRx 可定制系统集成软件
标准手动探针台 便携桌面式探针台 半自动探针台 射频微波探针台 高低温探针台 真空极低温探针台系统 晶圆电学参数测试系统 强磁-霍尔探针台 定制型精密探针卡 高低温chuck系统(Taiko) 磁吸探针座 CCD 显微镜 测试线缆与适配夹具 屏蔽箱与减震台 探针及其他配件
B-H分析仪 磁损功耗测试仪 阻抗分析仪 直流偏置DC Bias 高频LCR表 矢量网络分析仪 VNA 频率特性分析仪 毫欧表/电池内阻测试仪
快速温变热流仪 器件高低温平台 Thermalplate 器件结温模拟器 Tj
12bit高清数字示波器 光隔离示波器系统 基础数字示波器 信号发生器 数字万用表DMM 频谱分析仪 频率计 红外热像仪
光隔离电压探头 光隔离电流探头 动态导通电阻Rds(on)dynamic 示波器电压探头 高低压差分探头 磁通门电流互感器 交直流电流探头 无感-同轴分流器 通讯接口与线缆 专用夹具 软件
多通道数据采集仪 数据采集与回放 功率分析仪
数字锁相环放大器 超低噪声前置放大器 精密电流放大器 精密差分放大器 精密滤波器 截光器 精密低噪声直流电源
可编程直流电源 直流电子负载 精密双极性功率放大器 双极性仿真电源
安规测试仪(ACI/DCI/IR/GB) 高压表 HV meter
标准或校准源表 标准电流与电压表

技术服务与解决方案

Technical support and after sales service

技术服务与解决方案

< 返回列表

KEYSIGHT B1505A/B1506A 测试盒SiC适配TO或TOLL测试座夹具

ccee9e59-c86e-4aab-abaf-bb1335eca8b6.png


本方案由HSF-K12/K13测试夹具与HSF-Cx 系列专业测试座两大核心模块组成,实现硬件适配与测试精度的双重突破,可以完美匹配到KEYSIGHT B150X 机箱,直插对接B1506A原厂测试盒,屏蔽线完美适配B1505A,原生兼容CurveTracer接口,无需额外调试即可即插即用。

满足TO-247-3/4、TOLL、QDPAK、HU3PAK、TOLG、TOLT、TO-263等功率器件封装,全面覆盖SiC/GaN第三代半导体与传统硅基器件测试需求。


56c90705-bd86-469c-bda0-f06837c1cbde.png


突破原厂夹具仅支持TO-247-3的限制,实现了对市面主流功率封装的全面覆盖,无论是传统通孔还是新型表面贴装器件,均可适配。

● 通孔封装:全面兼容TO-247-3、TO-247-4L、TO-3P等经典封装,满足传统功率器件测试需求。

● SMD表面贴装:完美支持TOLL、TOLG、QDPAK、HU3PAK、TO-252等新型贴装封装,适配高密度集成设计。

面向未来半导体技术:深度适配SiC、GaN等第三代宽禁带半导体器件的电气特性与封装规范,为前沿功率器件研发测试提供可靠支撑。

专属定制化服务:针对特殊封装规格或非标测试需求,可提供定制化夹具开发服务,量身打造贴合您业务场景的测试解决方案,消除适配盲区。


实测数据:

英飞凌vQDPAK 器件IMCQ120R053M2H(VGS=18V,ID=13.2A,25℃,TYP.=52.6mΩ;175℃,TYP.=124mΩ)


898c3982-c458-4e95-9bb5-9da973c78eb2.png


abd8d3ae-6b91-407e-95cc-47ded6ec5f39.png



3ef66cfa-191f-4bb6-96c6-50237eaca175.png

扩展信息:

 HSF-K12  B1505A 功率器件分析仪专用测试盒

专为 Keysight B1505A N1265A定制直插式拓展夹具,原装规格兼容 Keysight产品接线面板,同时支持同惠,博测等品牌适配。

1、标准Keysight 1505A仪器插口面板,直插直用。

2、经典开尔文6端子测试接口,完美支持Vds,Igs,Rds(on)等常温与高低温性能。

3、支持TO-247-3/4、TOLL、QDPAK、HU3PAK、TOLG、TOLT、TO-263等功率器件封装,全面覆盖SiC/GaN第三代半导体与传统硅基器件测试需求。

 


配套 Cx 系列全开尔文测试座,全覆盖 TOLL、QDPAK、TO-247、TOLG、HU3PAK 等主流 SiC/GaN 新型功率封装;

核心能力:pA 级高压漏电流测试、mΩ 级精准 Rds (on) 测量、IV/CV/ 脉冲 / 高温可靠性一体化测试;

温域支持:搭配 PHS温控单元可实现 200℃高温测试,高温款测试座最高耐受 220℃;

适用场景:第三代半导体研发、功率器件导通 / 耐压可靠性检测、原厂设备功能拓展升级。

 

5.HSF-K13 B1506A 功率器件分析仪专用测试盒

专为 Keysight B1506A 功率器件分析仪定制直插式拓展夹具,原装规格兼容 Curve Tracer 曲线追踪接口;

1、标准Keysight 1506A仪器插口面板,直插直用。

2、经典开尔文6端子测试接口,完美支持Vds,Igs,Rds(on)等常温与高低温性能。

3、支持TO-247-3/4、TOLL、QDPAK、HU3PAK、TOLG、TOLT、TO-263等功率器件封装,全面覆盖SiC/GaN第三代半导体与传统硅基器件测试需求。


其他解决方案

相关产品

寻找更多销售、技术和解决方案的信息?

联系我们 >