Vamtek CX-600系列可以完美适配新型低Ls封装的SiC与GaN器件

Vamtek CX-600 系列全开尔文测试座

CX-600系列专业功率器件测试座，是一系列专为功率器件打造的高可靠性高精度的静态测试座，测试座适配通用Curve Tracer接口，可原装适配岩崎CS-3000/5000系列功率器件分析仪与是德1505A/1506A功率器件分析仪，测试座采用与日本JC株式会社合作的专业耐高低温连接器绝缘保护材料，低Ls高性能大电流导体材料，适用于常温与高低温下稳定评估各种DIP与SMD类型的不同封装的器件导通性能与静态漏电等参数。

CX-600 系列全开尔文测试座，全覆盖 TOLL、QDPAK、TO-247、TOLG、HU3PAK 等主流 SiC/GaN 新型功率封装；具备行业领先的机械与电气参数性能，搭配 PHS温控单元可实现 200℃高温测试，高温款测试座最高耐受 220℃；

适用场景：第三代半导体研发、功率器件导通 / 耐压漏电能力、高低温器件失效分析，原厂测试夹具适配。