功率半导体Datasheet 常温与高温静态参数测量方案

功率器件静态参数的测量，可通过IWATSU CS-3000、IWATSU CS-5000和IWATSU CS-8000半导体曲线特性分析仪实现。支持测量器件的DC IV、Pulse IV、AC IV和CV等测试，并在高压、大电流、大功率下完成其表征。半导体曲线特性分析仪是一款能够表征大功率器件（确定配置好合适的配置，可以完成从低温-55℃-高温200℃下pA级别的微电流(CS-8000系列支持最高fA的分辨率)到 10 kV / 2000 A的高压大电流）的一体化解决方案，多适用于高校、研究所、企业实验室的测试场景。

行业目前唯一支持交流下对器件特性曲线的分析（可用于更接近工况的失效分析）

IWATSU CS-3000半导体曲线特性分析仪/曲线追踪仪是一款用于芯片设计、失效分析、性能评价的综合解决方案（3 kV/1000 A 的宽广工作范围），可帮助功率器件设计工程师优化制程工艺与芯片设计，电力电子电路设计人员选择适合自身应用的功率器件，让其电力电子产品发挥最大价值，多适用于大规模的批量生产中。

支持测试项：

• Vdss  源漏极最高阻断电压

• Vge(th) 栅极阀值电压

• Idss   源漏极漏电电流

• Igss   栅极漏电

• Vce(sat) : 饱和导通压降

• Rds(ON) : 源漏极导通电阻

• I-V曲线

• 传输曲线

• 温度条件下参数曲线

• 反向恢复二极管正向压降 Vf

• 反向恢复二极管反向漏电

捷创仪器在对IWATSU产品提供技术支持的基础上，为您提供高精度的手动/半自动探针台的集成服务，提供IWATSU未给出新型夹具，适配您需求的各种主要封装、新型封装类型，辅助您完成测试，此外还有不同的高低温测试方案与更加便捷高效的智能测试软件可供选择，支持常/高温半导体特性曲线一键对比，一键生成专业Datasheet风格测试报告。

集成探针台晶圆级测试方案（可选配高低温chuck）

适配丰富的封装的Vamtek夹具

器件封装级温度方案（RT-175℃）

集成热流仪/无风冷热台的高低温方案

高效测试软件EC-200X

软件支持自动测试温变曲线并输出对比