WBG半导体-碳化硅功率器件静态参数评价
功率器件静态参数与动态参数是评价器件性能最关键的流程,满足器件电压与电流测试条件是对仪器的基本要求,大功率IGBT器件通常关断电压达到数KV,导通电流达到数KA ,其开关时间因为宽禁
微弱信号,主要指声信号、光信号或电信号等消息强度低,既小又弱,不易被接收、感觉到或设备接收。
微弱信号的概念可以从两个方面理解:1)相对性,信号幅值相对于噪声很微弱,如输入信噪比;2)绝对性,信号幅值极小。
噪声虽然无用,但是它时刻不在,既然躲不过,那么回避不如勇敢面对。
微弱信号检测
锁相放大器是一种检测淹没在噪声中的重复信号(交流)的测量仪器。
也可将其看成是一种具有抗噪声性能的高灵敏度交流电压表。在进行测量时,除了一些特殊情况,都需要参照信号。一般情况下,直接把测量用的信号源连接到参照信号输入端。它广泛地应用在分光分析等物理化学研究领域。
前置放大器(电流信号或电压信号)
SA系列是用于极微弱信号检测的前置放大器系列,该系列是以取得前置放大器至今从未有过的低噪声为目标而开发的。根据频带、输入形式、输入阻抗不同,本系列分为9种型号的前置放大器可供选用。另外还备有专用的电源和用于驱动传感器的电源。
可适用于各种各样的用途,包括作为各种传感器的前置放大器、作为提高分析仪器和测量仪器等 的灵敏度或降低噪声而采用的前置放大器等等。
| 用于量子计算机超导电设备的信号放大 | |
| 用于检测红外线的MCT(Mercury Cadmium Tellurium)传感器 | |
| 用于检测微弱磁场的SQUID超导传感器 | |
| 用于检测微波的高温超导约瑟夫逊元件 | |
| 用于MRI(磁共振成像)的电磁波传感器 | |
| 光电倍增管、光晶体管等的光检测元件 | |
| 其他各种传感器、元件、分析设备等需要低噪声和高速响应的领域 |

精密低噪声电源

LP5393和LP5394为输出噪声电压低于10µVrms的低噪声直流电源。
不仅仅是电路技术,还有电源内部的屏蔽构造都使得该产品实现了与电池所相同水平的低噪声。LP系列电源不单纯是低噪声输出,与一般直流电源相比,还具备了非常优秀的温度稳定性。对于测量易受噪声和电压稳定度影响的微小信号电路来说,是十分合适的。通常可以作为低噪声前置放大器的直流电源来使用。
![]() | ![]() |
| LP5393 | LP5394 |
低噪音:低于 10 µVrms(typ.) (频率范围: 10 Hz to 20 MHz)
低漂移:±10 ppm/℃ typ.
| LP5393 | LP5394 | |
| 输出噪声 | 10 µVrms以下 (typ.) | |
| 输出电压稳定度 | ±10 ppm/°C (typ.) | |
| 电压设定范围 | - | 3 V, 5 V, 10 V 或 15 V F.S.(可选) |
| 输出电压(双输出) | ±12 V ~ ±15 V | 0 V ~ ±15 V (最大电压是电压范围 F.S. ) |
| 电压调节 | 电压输出调节器 | 10转电压调节旋钮 |
| 输出电流 | 0.1 A max. | |

WBG半导体-碳化硅功率器件静态参数评价
功率器件静态参数与动态参数是评价器件性能最关键的流程,满足器件电压与电流测试条件是对仪器的基本要求,大功率IGBT器件通常关断电压达到数KV,导通电流达到数KA ,其开关时间因为宽禁
特高压--电网高压及特离子特高压信号光隔离测量
产品描述:针对宽禁带半导体所展现出来的高频化,高温环境,高电压,大电流特性,以及操作环境相对恶劣的情况,为用户提供多种方案的测试前端
SiC/GaN 碳化硅双脉冲动态参数与动态内阻测试
Power Electronic Device 功率半导体器件,主要用于电力设备的电能变换和控制电路方面的大功率电子器件,评价IGBT的一项比较重要且被工程师们大量采用的测试—双脉冲测试(Double Pulse Test)
软磁材料及电感器件高频损耗与BH参数分析
如何正确的评价不同材料磁芯满足高频与大电流应用的场景,IWATSU B-H 分析仪系统就是全球此领域最权威,应用范围最广的软磁材料高频交流BH特性测试仪。
功率半导体Datasheet 常温与高温静态参数测量方案
功率器件静态参数的测量,可通过IWATSU CS-3000、IWATSU CS-5000和IWATSU CS-8000半导体曲线特性分析仪实现。支持测量器件的DC IV、Pul
IWATSU-CS3000/5000 系列半导体分析仪 栅极电荷(Qg)测试指南
精准测量功率器件的门极电荷(Qg)对优化开关电源设计和可靠性评估至关重要。本文将系统介绍如何使用 CS 半导体参数分析仪的测试方案完成这一关键测试。
晶圆级微电芯片-晶圆在片参数测试
产品描述:主要应用在半导体 微电子,电子,机电,物理,化学,材料,光电,纳米,微机电 MEMs,生物芯片,航空航天等科学研究领域,以及IC
电动汽车--电池-电驱-电机性能与可靠性测量
测试系统涵盖交流充电桩、直流充电桩(站)、车载充电机(OBC)、DC-DC、电池包、HCU、MCU、电气安规测试等测试内容,适用于电动汽车信号级和功率级测试
寻找更多销售、技术和解决方案的信息?
联系我们 >